[发明专利]模型参数生成方法、装置、电子设备和可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202110212477.6 申请日: 2021-02-25
公开(公告)号: CN112784469A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 马光辉 申请(专利权)人: 广州虎牙科技有限公司
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06T19/20;G06K9/62;G06F111/04
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张欣欣
地址: 511495 广东省广州市番禺*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 模型 参数 生成 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种模型参数生成方法,其特征在于,所述模型参数包括模型顶点的纹理坐标,所述方法包括:

将目标三维模型的表面分割为多个区域;

针对各个区域,生成该区域对应的二维图像,其中,所述二维图像为该区域对应的二维展平图像,所述二维图像中包括与所述目标三维模型的模型顶点对应的映射点;

根据各区域对应的二维图像以及二维图像中映射点与模型顶点的对应关系,得到所述目标三维模型的模型顶点的纹理坐标。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述将目标三维模型的表面分割为多个区域,包括:

根据所述目标三维模型的连通性,将所述目标三维模型分离成独立的子模型;

针对各子模型,在该子模型的表面进行采样,确定出多个采样点;

将该子模型的模型表面点划分为以采样点为中心的聚类集合,其中,一个聚类集合中包括一个采样点,该聚类集合中包括的模型表面点组成该采样点对应的区域;

所述根据各区域对应的二维图像以及二维图像中映射点与模型顶点的对应关系,得到所述目标三维模型的模型顶点的纹理坐标,包括:

将对应同一子模型的二维图像放置在一个平面上,获得在放置之后与所述模型顶点对应的映射点在所述平面中的纹理坐标。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将该子模型的模型表面点划分为以采样点为中心的聚类集合,包括:

根据各采样点的位置,确定各采样点的相邻采样点;

针对各采样点,根据该采样点的位置、该采样点的相邻采样点的位置及该子模型的其他各模型表面点的位置,确定出以该采样点为中心的聚类集合。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将对应同一子模型的二维图像放置在一个平面上,包括:

将对应同一子模型的二维图像随机排列在所述平面上;

检测当前图像排列方式是否导致二维图像中的映射点的纹理坐标出现重叠;

在是的情况下,对当前图像排列方式进行调整,以将所述二维图像以纹理坐标无重叠的方式放置在所述平面上。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述检测当前图像排列方式是否导致二维图像中的映射点的纹理坐标出现重叠,包括:

计算各个二维图像的包围盒;

判断是否出现包围盒重叠的情况;

若出现,则确定当前图像排列方式导致二维图像中的映射点的纹理坐标出现重叠;

若未出现,则确定当前图像排列方式未导致二维图像中的映射点的纹理坐标出现重叠。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

获得所述目标三维模型的原始顶点面片信息,其中,所述原始顶点面片信息包括各面片与该面片包括的模型顶点的对应关系;

根据所述原始顶点面片信息,确定出模型顶点数量大于3的多边形面片,并对确定出来的多边形面片进行三角化处理,以将多边形面片划分为多个三角形面片;

在三角化处理之后,获得所述目标三维模型的顶点邻接关系,其中,所述顶点邻接关系包括顶点与顶点之间的相邻关系及顶点与面片之间的相邻关系;

所述针对各个区域,生成该区域对应的二维图像,包括:

根据所述顶点邻接关系及预设约束条件,生成该区域的二维图像。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述顶点邻接关系及预设约束条件,生成该区域的二维图像,包括:

提取该区域的边界;

根据所述顶点邻接关系、边界及预设约束条件,生成该区域的二维图像,其中,所述预设约束条件包括边界最小形变约束和/或三角形最小形变约束。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

将所述目标三维模型及模型参数输入仿真引擎中。

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