[发明专利]一种考虑双向尺度的电路故障特征提取方法有效

专利信息
申请号: 202110212177.8 申请日: 2021-02-25
公开(公告)号: CN112989580B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 徐学文;盛沛;盖炳良;郑振;戴勇军;白玉;张广法 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军航空大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙) 61239 代理人: 郭璐
地址: 264000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 考虑 双向 尺度 电路 故障 特征 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种考虑双向尺度的电路故障特征提取方法,其特征在于,采用改进盒维数算法计算分形盒维数,作为电路故障特征值进行电路故障特征提取;

所述改进盒维数算法采用长方形网格覆盖的方法计算分形盒维数值;其中,长方形网格的长为Δl,宽为Δw,Δl和Δw满足其中,T为采样时间,N为对应采样点数,d为垂直精度,A为幅值;

采用长方形网格覆盖的方法计算分形盒维数值的具体操作步骤包括,

S1:在横轴方向上,对所采集的电压波形进行区间划分,选取横向尺度δX,将时间区间划分成个小区间,每个小区间可表示为若不能整除,还会在末端出现一余量,但并不影响后续算法;

S2:在每个小区间内,选取纵向尺度δY,将小区间进一步划分,此时该小区间内出现的电压波形最大值与最小值的差值除以δY向上取整,即为该小区间内的相交盒子数量;

S3:重复步骤S1~S2,计算所有小区间相交盒子数量并求和,即可得到波形的盒子总数,记为MX,Y(F);

S4:在横向尺度和纵向尺度上取不同的δX及δY,分别计算MX,Y(F)-δX及MX,Y(F)-δY双对数曲线图,得到曲线斜率k;δX及δY需满足无标度区范围;

S5:构造以横向尺度δX、纵向尺度δY、双对数曲线斜率k为坐标轴的立体坐标系,则坐标系内较为平缓的部分k值即为所求的分形盒维数值;

S6:对提取出来的分形盒维数值进行检验。

2.根据权利要求1所述的一种考虑双向尺度的电路故障特征提取方法,其特征在于,步骤S6的具体操作包括以下步骤,

S601:选取非线性模拟电路中N种典型的故障状态,包括正常状态在内共计N+1种;

S602:在第i种状态下,对测试点输出电压信号进行测量,并利用改进盒维数算法进行分形盒维数值的计算,则该分形盒维数值即为一次实验样本;

S603:重复步骤S602共m次,取得m个状态i下的实验样本,求取平均值及区间范围;

S604:在不同状态下,重复步骤S602和步骤S603共N+1次,取得所有状态i的样本区间范围和平均值。

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