[发明专利]集成电路测试分选机的通用型硬件相关程序库的架构系统

说明书

本发明公开了一种高效率的集成电路测试分选机的通用型硬件相关程序库的架构系统，主要的做法是将本地机主程序切割成两大块，一块是操作主程序，另一块是通用型硬件相关程序库，程序库中的架构与系统界面完全配合集成电路测试分选机硬件来规划，所有与硬件通讯或者是输入输出的一些资料存取功能，全部在这个程序库中规划与设计，操作主程序透过这一程序库所提供的呼叫界面，可以很方便地呼叫硬件的执行动作，可以让操作主程序的设计变得比较单纯，只要着重在画面的规划即可，可以让不同的机台设计时，在画面的设计上变得很方便，不用考虑当底层硬件元件不同时的处理问题，在开发新型体时，可以提升软件设计的便利性，加快产品的开发时程。

技术领域

本发明涉及集成电路测试分选机技术领域，具体涉及一种高效率的集成电路测试分选机的通用型硬件相关程序库的架构系统。

背景技术

未来工业4.0的价值是利用物联网、感测技术技术连结万物，机械与机械、机械与人之间可以相互沟通，将传统生产方式转为高度客制化、智慧化、服务化的商业模式，可以快速制造少量多项的产品，适应快速变化的市场。

目前，集成电路测试分选机(IC test handler)的通用型硬件相关程序库的架构系统开发的整体架构如图1所示，从图中可以发现主程序(main program)的部分包含工作项目，要负责与测试分选机通讯，同时也要去跟测试系统(test system)互动，再加上半导体的标准规格SECS/GEM通讯的部分也是要由主程序整体来负责执行，当然其中也包含画面的操作与呈现功能。整体而言，工作项目很多，在通讯时又要要求能够实时处理异常状况，确实负担太大，程序越来越庞大，造成侦错的效率不容易提升。

为配合未来发展的需要，产品的设计模块化是必要的发展方向，目前在开发集成电路测试分选机的主程序时，由于未将硬件相关的程序做恰当的模块切割，常常因为客户对于画面操作功能有额外需求，导致主程序的架构愈来愈复杂，愈来愈庞大，不容易维护与修改，严重影响新产品的开发进度，无法快速开发出新产品和无法快速制造少量多项的产品，不能适应快速变化的市场，失去很多商机。

鉴于此，有必要提出新的软件开发架构的发明。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种集成电路测试分选机的通用型硬件相关程序库的架构系统，用以解决背景技术中提到的现有技术所存在的技术缺陷。

为了达到上述技术效果，本发明采用的技术方案是：

一种集成电路测试分选机的通用型硬件相关程序库的架构系统，包括集成电路测试分选机、测试系统、本地机和主机；所述集成电路测试分选机通过通讯端口双向连接的测试系统，并通过外围连接接口双向连接的本地机的本地机主程序，所述本地机主程序通过TCPIP双向连接的主机SECS/GEM通讯程序；其特征在于，所述本地机主程序包括通用型硬件相关程序库和主画面操作主程序，所述通用型硬件相关程序库的库接口双向连接外围连接接口、操作主程序、以及通过TCPIP双向连接的主机SECS/GEM通讯程序；其中，

所述程序库用于负责所有的通讯功能，包含与测试分选机通讯，与测试系统通讯以及与主机使用SECS/GEM通讯规格连线互动，维护标准的系统参数资料、存取输入输出的实时资料，确保系统异常时，可以快速还原状况，继续执行测试任务；

所述操作主程序用于负责画面的呈现，以及传送正确的函数参数给硬件相关的程序库，透过程序库所提供的呼叫界面，呼叫硬件的执行动作。

进一步地，所述程序库包括硬件的通讯界面函数、测试系统的通讯界面函数、输入点的界面存取函数和输出点的界面存取函数；其中，

所述硬件的通讯界面函数用于提供低阶的硬件通讯所需要的界面函数，包含TCPIP、RS232、GPIB、TTL的通讯函数；

所述测试系统的通讯界面函数用于对测试分选机连接的测试系统提供所有需要的通讯相关的函数。