[发明专利]一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本发明公开了一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质，包括：获取待测音频芯片，其中，待测音频芯片中包括多个项目单元；确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元；将音频信号分别输入待测项目单元，并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值；根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。针对待测音频芯片确定测试指标类型以及待测项目单元，并根据需求对待测音频芯片中所选定的待测项目单元分别进行测试，直观准确的获取待测音频芯片不同项目单元的测试结果，整个测试过程操作简便无需消耗过多的时间和人力成本。

技术领域

本发明实施例涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

在真正无线立体声（True Wireless Stereo，TWS）耳机中需要配置音频芯片，以实现TWS耳机的功能。针对TWS耳机的音频芯片在设计的过程中，需要对音频芯片进行性能测试，在确定测试无误的情况下才会进行后续的大量生产。

但是目前在音频芯片的测试过程中，通常需要培训专业的人员对测试设备进行操作，测试过程中不仅需要消耗过多的时间成本和人力成本，而且针对音频芯片中的不同模块无法直观的获取测试结果，因此现有的音频芯片的测试方法无法满足用户的测试需求。

发明内容

本发明实施例提供了一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质，以实现对音频芯片的准确高效的测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种音频芯片的测试方法，包括：获取待测音频芯片，其中，待测音频芯片中包括多个项目单元；

确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元；

将音频信号分别输入待测项目单元，并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值；

根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。

第二方面，本发明实施例提供了一种音频芯片的测试装置，包括：

待测音频芯片获取模块，用于获取待测音频芯片，其中，待测音频芯片中包括多个项目单元；

测试指标类型和待测项目单元确定模块，用于确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元；

测试指标数值获取模块，用于将音频信号分别输入待测项目单元，并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值；

测试结果获取模块，用于根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。

第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现本发明任意实施例的方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例的方法。

在本发明实施例中，针对待测音频芯片确定测试指标类型以及待测项目单元，并根据需求对待测音频芯片中所选定的待测项目单元分别进行测试，直观准确的获取待测音频芯片不同项目单元的测试结果，整个测试过程操作简便无需消耗过多的时间和人力成本。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的音频芯片的测试方法的流程图；

图2是本发明实施例二提供的音频芯片的测试方法的流程图；

图3是本发明实施例三提供的音频芯片的测试装置结构示意图；

图4是本发明实施例四提供的一种电子设备的结构框图。