[发明专利]一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法

权利要求书

1.一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将UiO-66-NH₂纳米颗粒分散在DMF中，控制其质量浓度为20-30mg/mL，加入NaH后40-60℃条件下拔氢6-8h，然后加入环氧溴丙烷40-60℃条件下反应12-24h，得到反应液，将反应液离心、洗涤、干燥，最终得到EPB-UiO-66-NH₂纳米颗粒；

(2)将CS溶解于1%(V/V)的乙酸水溶液中形成CS溶液；

(3)将步骤(1)得到的EPB-UiO-66-NH₂纳米颗粒加入到1%(V/V)的乙酸水溶液中，控制其质量浓度为11-43mg/mL，交替搅拌和超声得到EPB-UiO-66-NH₂分散液；

(4)将步骤(2)得到的CS溶液加入到步骤(3)得到的EPB-UiO-66-NH₂分散液中，控制其质量比为(3-5):1，经交替搅拌和超声后，在N₂气氛下反应，得到交联后的涂膜液；

(5)将步骤(4)得到的交联后的涂膜液在聚醚砜基膜上刮涂成膜，置于烘箱中干燥。

2.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(1)所述的UiO-66-NH₂、NaH和环氧溴丙烷的摩尔比为1:1.2:(6-12)。

3.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(2)所述的CS溶液的质量浓度为1-3wt%。

4.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(3)所述的交替搅拌和超声时间为4-8h。

5.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(4)所述的交替搅拌和超声时间为12-24h。

6.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(4)所述的CS和EPB-UiO-66-NH₂在N₂气氛下的反应，反应温度为70-80℃，反应时间为24-48h。

7.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(5)所述的交联后的涂膜液中，EPB-UiO-66-NH₂的负载量为10-30wt%；其中，EPB-UiO-66-NH₂负载量=EPB-UiO-66-NH₂质量/(EPB-UiO-66-NH₂质量+CS质量)。

8.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(5)所述的聚醚砜基膜为商品超滤膜，平均孔径为10-20nm，在涂覆所述的涂膜液之前，将裁好的聚醚砜膜片浸泡于去离子水中24-48h。

9.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(5)中用刮刀将交联后涂膜液涂覆在聚醚砜基膜表面时，控制湿涂层厚度为100±10μm。

10.根据权利要求1所述的一种通过化学交联制备高UiO-66纳米颗粒负载量壳聚糖混合基质膜的方法，其特征在于，步骤(5)所述的干燥温度为30-70℃，干燥时间为24-48h。