[发明专利]针对特效的检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种针对特效的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取用于特效检测的资源配置信息，所述资源配置信息包括特效资源路径和特效检测规则；

基于所述特效资源路径，获取待检测特效；

获取所述待检测特效的多细节层次LOD层数，以及，将所述待检测特效中的材质替换为像素值统一的透明材质，得到替换后的待检测特效；

基于所述LOD层数，对所述待检测特效进行逐层播放；

对于所述LOD层数中的第一LOD层，在所述替换后的待检测特效的播放过程中，对单帧图像进行像素遍历，获取单帧图像对应的第一LOD层中各个像素点的像素值；

对于所述第一LOD层数中的各个像素点，获取所述各个像素点的红色通道参数，以及所述透明材质的红色通道参数；

分别采用所述各个像素点的红色通道参数除以所述透明材质的红色通道参数，得到所述各个像素点的重绘数；其中，所述重绘数用于指示所述透明材质在像素点上的使用次数；

对所述第一LOD层中各个像素点的重绘数进行求平均处理，得到所述第一LOD层的单帧平均重绘数；

从所述第一LOD层中各个像素点的重绘数中选择数值最大的重绘数，得到所述第一LOD层的单帧最大重绘数；

从所述第一LOD层的每一帧图像的单帧最大重绘数中选择最大的重绘数，得到所述第一LOD层的特效最大重绘数；其中，所述第一LOD层的属性信息包括：所述第一LOD层的单帧平均重绘数、所述第一LOD层的单帧最大重绘数和所述第一LOD层的特效最大重绘数；

根据所述待检测特效的各个LOD层的属性信息，确定所述待检测特效的属性信息；其中，所述待检测特效的属性信息包括：所述待检测特效的单帧平均重绘数、所述待检测特效的单帧最大重绘数和所述待检测特效的特效最大重绘数；

基于所述特效检测规则对所述待检测特效的属性信息进行检测，生成所述待检测特效的特效检测信息；其中，所述特效检测信息包括不符合所述特效检测规则的属性信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述资源配置信息还包括特效白名单；其中，所述特效白名单中包括至少一个特效的标识；

所述基于所特效资源路径，获取待检测特效之后，还包括：

响应于所述待检测特效的标识在所述特效白名单中，基于所述特效资源路径，获取下一个待检测特效；

响应于所述待检测特效的标识不在所述特效白名单中，执行所述对所述待检测特效进行播放处理，并获取所述待检测特效的属性信息的步骤。

3.根据权利要求1至2任一项所述的方法，其特征在于，所述属性信息还包括最大粒子数和粒子发射器数量；

所述方法还包括：

采用特效播放插件对所述待检测特效进行播放处理；

基于所述特效播放插件中的函数，获取所述最大粒子数和所述粒子发射器数量。