[发明专利]具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法在审

专利信息
申请号: 202110196852.2 申请日: 2021-02-22
公开(公告)号: CN112987489A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 陈燕鹏;于世瑞 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 郭四华
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 具有 器件 辅助 图形 版图 opc 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、提供具有器件辅助图形的初始版图,在所述器件辅助图形中选取特征器件辅助图形,在所述初始版图中截取包含了所选取的所述特征器件辅助图形的特征子版图,对所述特征子版图进行OPC修正形成掩模板子图层;

步骤二、对所述初始版图中的所述特征器件辅助图形进行图形匹配并将匹配到的所述特征辅助图形都替换为所述掩模板子图层并生成第一掩模板图层;

步骤三、对所述初始版图中和所述第一掩模板图层未接触的主图形和所述器件辅助图形进行OPC修正形成第二掩模板图层,将所述第一掩模板图层和所述第二掩模版图层进行合并形成最终掩模板图层。

2.如权利要求1所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中的所述特征器件辅助图形包括一类以上,每一类特征对应的所述特征器件辅助图形都形成和特征类型相对应的所述掩模板子图层和所述第一掩模板图层;

步骤三中,将各特征类型对应的所述第一掩模板图层和所述第二掩模版图层一起进行合并形成所述最终掩模板图层。

3.如权利要求1或2所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中所述特征器件辅助图形的所选取方法包括:

将在所述初始版图中大量重复放置的所述器件辅助图形选择为所述特征器件辅助图形。

4.如权利要求3所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中,所述特征子版图的截取方法为:

截取包含至少3*3个最小重复单元的子版图作为所述特征子版图。

5.如权利要求1或2所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中所述特征器件辅助图形的所选取方法包括:

将尺寸大于等于最小设计规则规定的最小尺寸的1.5倍以及间距大于等于最小设计规则规定的最小间距的1.5倍的所述器件辅助图形选择为所述特征器件辅助图形。

6.如权利要求1或2所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中所述特征器件辅助图形的所选取方法包括:

将距离所述初始版图中的所述主图形的距离大于等于设计规则规定的所述主图形与所述器件辅助图形的最小间距的1.5倍的所述器件辅助图形作为所述特征器件辅助图形。

7.如权利要求6所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中,所述特征子版图的截取方法为:

截取包含1个相对独立的器件辅助图形的子版图作为所述特征子版图。

8.如权利要求1所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中,对所述特征子版图进行OPC修正的过程包括:

生成OPC目标层;

添加亚曝光辅助图形;

进行基于OPC模型的修正生成所述掩模板子图层。

9.如权利要求1所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:步骤三中,对所述初始版图中和所述第一掩模板图层未接触的所述主图形和所述器件辅助图形进行OPC修正的过程包括:

生成OPC目标层;

添加亚曝光辅助图形;

进行基于OPC模型的修正生成所述第二掩模板图层。

10.如权利要求1或9所述的具有器件辅助图形的版图的OPC修正方法,其特征在于:对所述初始版图中和所述第一掩模板图层未接触的所述主图形和所述器件辅助图形进行OPC修正时,需将所述第一掩模板图层作为OPC修正参考层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力集成电路制造有限公司,未经上海华力集成电路制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110196852.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top