[发明专利]接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法。接口转换电路，置于芯片内部，包括：解码模块、控制模块、数据模块、写入模块、读取模块和比较输出模块。解码模块用于根据主控设备发出的测试向量得到测试指令和原始测试数据；控制模块包括压缩判断单元，压缩判断单元用于根据测试指令判断原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；数据模块用于根据判断结果输出测试数据；其中，测试数据包括写入数据和期待响应数据；写入模块用于将写入数据输出至芯片；读取模块用于采集芯片反馈的读取；数据比较输出模块用于根据读取数据和期待响应数据，得到错误信号并输出。本发明实施例可以提高芯片测试的灵活性和效率。

技术领域

本发明实施例涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法。

背景技术

为了确保芯片能正常工作，在芯片制造过程中和制造完成后，必须对芯片进行严格的测试。通常，芯片测试要通过联合测试工作组(Joint Test Action Group，JTAG)测试引脚进行，标准JTAG协议的测试方法，是在测试数据输入端口向芯片灌入测试向量，然后在测试数据输出端口获取芯片的响应信号，以此来检测芯片的功能是否正常。芯片内部的测试电路负责接收并执行外部测试系统发送来的测试向量，然后将结果向量反馈给外部的芯片测试系统。随着计算需求的高度发展，软件对运算算力的要求越来越高，导致芯片规模越来越大，测试向量越来越复杂，使得芯片测试所需的时间越来越长。因此，现有的芯片测试方法存在灵活性差、效率低的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种接口转换电路、芯片、芯片测试系统及方法，以提高芯片测试的灵活性和效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种接口转换电路，置于芯片内部，用于芯片测试，所述接口转换电路包括：

解码模块，所述解码模块的输入端用于与外部的主控设备连接；所述解码模块用于根据所述主控设备发出的测试向量得到测试指令和原始测试数据；其中，所述测试向量与所述接口转换电路匹配；

控制模块，所述控制模块的输入端与所述解码模块的第一输出端连接；所述控制模块包括压缩判断单元，所述压缩判断单元用于根据所述测试指令判断所述原始测试数据是否经过压缩，并将判断结果输出；

数据模块，所述数据模块的第一输入端与所述解码模块的第二输出端连接，所述数据模块的第二输入端与所述控制模块的输出端连接；所述数据模块用于根据所述判断结果输出测试数据；其中，所述测试数据包括写入数据和期待响应数据；

写入模块，所述写入模块的输入端与所述数据模块的第一输出端连接，所述写入模块的输出端与所述芯片的测试访问端口的输入端连接，以将所述写入数据输出至所述芯片；

读取模块，所述读取模块的输入端与所述芯片的测试访问端口的输出端连接；所述读取模块用于采集所述芯片反馈的读取数据；

比较输出模块，所述比较输出模块的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接，所述比较输出模块的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述比较输出模块用于根据所述读取数据和所述期待响应数据，得到错误信号并通过输出端输出。

可选地，所述测试数据还包括掩码数据；

所述比较输出模块包括：与单元、异或单元和错误寄存器；

所述与单元的第一输入端与所述数据模块的第三输出端连接；所述与单元的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述与单元用于根据所述掩码数据和所述读取数据得到实际关心数据，并过滤不关心数据；

所述异或单元的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接；所述异或单元的第二输入端与所述与单元的输出端连接；所述异或单元用于根据所述实际关心数据和所述期待响应数据得到比较结果；