[发明专利]一种磁共振图像上颞下颌关节定量测量分析系统

权利要求书

1.一种磁共振图像上颞下颌关节定量测量分析系统，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、以MRI图像中，髁突最大截面图像为测量对象，描绘髁突与下颌支形态，并在下颌支后缘选择髁突向后最突出的一点和下颌角向后最突的一点，连接两点形成一条下颌支后缘切线，即为垂直参考线。

步骤二、垂直与下颌支后缘切线，做一直线与下颌骨乙状切迹相切，确定水平参考线。

步骤三、在垂直参考线的方向上，髁突头部轮廓中最高的点即为髁突顶点。

步骤四、髁突顶点到水平参考线的距离即为髁突的高度，髁突顶点到关节盘后缘的距离为关节盘移位的距离。

步骤五、节窝的轮廓在垂直参考线上最高的一点记为关节窝点关节结节的轮廓在垂直参考线上最低的一点记为关节结节点，上述两点到水平参考线距离的差值即为关节窝的深度。

步骤六、髁突顶点与关节窝点到水平参考线距离的差值即为关节间隙的宽度。

步骤七、关节盘前缘中点到关节盘中点的距离加关节盘后缘中点到盘中点的距离，即为关节盘长度。

2.根据权利要求1所述的一种磁共振图像上颞下颌关节定量测量分析系统，其特征在于，当关节盘变形无法识别盘中点时，前缘和后缘的中点连线即为关节盘长度。