[发明专利]模块化测控系统生成方法、装置、计算机设备及存储器

说明书

本申请实施例属于模块化测控系统技术领域，涉及模块化测控系统生成方法，包括检测外设的AIM模块，并且对AIM模块编号；获取用户指定的与AIM模块相对应的测控功能；根据用户对所述AIM模块指定的测控功能，提取算法库中的算法，并且生成与AIM模块对应的检测固件；将所述检测固件烧录在主控核心中。本申请还提供一种模块化测控系统的生成装置、计算机设备及存储介质。通过将测试过程中需要用到的通用模块所需程序代码模块化，并且与预设的模块库文件相对应，生成FPGA固件，之后，对应配置驱动库文件并打包为检测固件。该方案能够根据测试过程中需要用到的总线以及AIM模块以及连接结构，快速编写检测固件，检测固件编写效率高因此能够快速适应不同的测试工况。

技术领域

本申请涉及模块化测控系统技术领域，尤其涉及模块化测控系统生成方法、装置、计算机设备及存储器。

背景技术

在电子产品生产过程中需要对产品的硬件功能进行检测和程序烧录，例如测量产品的上电时序并输出时序图、测量产品某个测试点的电压或电流、输出指定电压或波形信号给待测产品等。在传统方式中，代工厂或夹具供应商需要根据测试需求购买相应的标准仪器设备，然后再通过编写代码控制仪器完成相应需求功能，如此生产环境搭建的成本高昂并且效率很低。

模块化的测控系统包括若干AIM模块在内的通用模块以及FPGA电路的主控核心，并且通过总线连接，同时还能够通过总线，经过IO设备与外界通信，在需要测试不同的硬件的时候，选取算法库中的算法，控制通用模块实现硬件的检测。

基于此，有人提供了FPGA实现的软件定义仪器，主要是通过FPGA的可编程特性来达到软件定义的目的。例如NI的CompactRIO就是用户使用LabVIEW对硬件上的FPGA进行编程来实现各类嵌入式控制和监测应用。该种方法虽然通过提供LabVIEW图形化工具来简化FPGA的开发难度，但是对于在线测试和功能测试夹具厂商来说，使用FPGA开发功能的效率低，无法快速适应不同的测试工况。

发明内容

本申请实施例的目的在于提出模块化测控系统生成方法，以快速适应不同的测试工况。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种检测固件生成方法，采用了如下所述的技术方案：

模块化测控系统的生成方法，包括下述步骤：

检测外设的AIM模块，并且对AIM模块编号；

获取用户指定的与AIM模块相对应的测控功能；

根据用户对所述AIM模块指定的测控功能，提取算法库中的算法，并且生成与AIM模块对应的检测固件；

将所述检测固件烧录在主控核心中。

进一步的，所述步骤检测外设的AIM模块，并且对AIM模块编号，具体包括：

识别AIM模块和对应的ADC，并且对ADC编号；

将所述编号写入AIM模块对应的DMA存储器中；

进一步的，所述步骤根据用户对所述AIM模块指定的测控功能，提取算法库中的算法，并且生成与AIM模块对应的检测固件，具体包括：

根据测控功能，在算法库中提取与AIM模块相对应的模块库文件；

编辑所述模块库文件，并且对所述模块库文件编译，以生成FPGA固件；

根据模块库文件，在算法库中提取与AIM模块对应的驱动库文件；

将所述FPGA固件及驱动库文件打包为检测固件。

进一步的，所述编辑所述模块库文件，并且对所述模块库文件编译，以生成FPGA固件的步骤具体包括：