[发明专利]一种嵌入式系统高可靠存储方法

权利要求书

1.一种嵌入式系统高可靠存储方法，其特征在于包括以下步骤：

第一步、将嵌入式存储器划分成两组失效管理区和两组数据存储区，每组数据存储区包括N个数据存储单元，每个数据存储单元用于存储有效数据，每组失效管理区对应一组数据存储区，所述的失效管理区用于存储对应数据存储区当前使用的数据存储单元的编号；两组失效管理区中的第一组失效管理区和两组数据存储区中的第一组数据存储区分别用于快速存储，两组失效管理区中的第二组失效管理区和两组数据存储区中的第二组数据存储区分别用于下电存储；所述的快速存储是嵌入式系统按时间更新的数据，下电存储是嵌入式系统下电前保留的现场数据；

第二步、失效管理区将使用的数据存储单元编号连续存储5个字节，每个字节都存储当前使用的存储单元的编号；

第三步、读取失效管理区数据，将5个字节中的数据彼此之间一一比较进行校验，若5个字节中的数据至少有3个数据一致，则认为失效管理区数据有效，然后执行第五步；否则，将失效管理区的5个字节存储为1；

第四步、在失效管理区写入数据并连续存储5个字节，然后将5个字节中的数据读出并且彼此之间一一比较进行校验；当失效管理区数据存储后读出校验出现连续3次校验失败，则认为所述的嵌入式存储器失效，判断过程结束；否则执行第五步；

第五步、根据失效管理区数据确定使用的数据存储单元，然后对相应编号的数据存储单元进行数据读写；

第六步、数据存储单元存储数据后，立刻读取数据，将所述的存储数据和读取数据比对进行一致性校验；如果数据校验通过，嵌入式系统读取嵌入式存储器中当前数据存储单元存储的数据继续运行，否则执行第七步；

第七步、重新向当前的存储单元存储数据，然后采用第六步的方法进行数据校验，当当前的数据存储单元连续3次写入读出校验失败，判定为当前数据存储单元失效，则将对应失效管理区中的存储数据加1，然后重复第四步至第七步直至下电。

2.根据权利要求1所述的嵌入式系统高可靠存储方法，其特征在于：快速存储单元的数量多于下电存储单元的数量。

3.根据权利要求1或者2所述的嵌入式系统高可靠存储方法，其特征在于：第六步中所述的存储数据若为短数据，则通过数值一一比较进行数据校验；若为长数据则通过CRC校验算法校验。