[发明专利]一种高灵敏度的磁场强度检测装置在审
申请号: | 202110175821.9 | 申请日: | 2021-02-09 |
公开(公告)号: | CN113156343A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 吕岩 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 710000 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 灵敏度 磁场强度 检测 装置 | ||
本发明属于磁场检测装置技术领域,具体涉及一种高灵敏度的磁场强度检测装置,包括光源,光源的一侧设置有微型光谱检测仪,光源和微型光谱检测仪之间设置有光纤,光纤柱心位置设置有纤芯,光纤内壁设置有涂覆层,光纤内纤芯和涂覆层之间设置有包层,包层靠近光源一端的外壁以及包层靠近微型光谱检测仪一端的外壁设置有伸缩框,伸缩框中设置有超磁致伸缩材料。本发明通过超磁致伸缩材料的伸缩状态捕获磁场强度的改变,进而通过光纤包层的折射率的改变,得到光纤的光谱,从而获得磁场强度的测量值,测量精度较高,且光纤的透射特性对折射率十分敏感的特性,使得测量更加灵敏精确。
技术领域
本发明涉及磁场检测装置技术领域,具体为一种高灵敏度的磁场强度检测装置。
背景技术
磁场强度检测装置是检测磁场污染的一种有效装置。随着经济发展快速,各种电器设备以及高压电基础在生活中逐渐增多,磁场污染也越来越严重。
现有技术中,由于结构的限制,磁场强度检测装置结构复杂,使用不够便捷,且还存在灵敏度不够高的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高灵敏度的磁场强度检测装置,解决了磁场强度检测的灵敏度不够高和不够便捷的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种高灵敏度的磁场强度检测装置,包括光源,所述光源的一侧设置有微型光谱检测仪,所述光源和微型光谱检测仪之间设置有光纤,所述光纤柱心位置设置有纤芯,所述光纤内壁设置有涂覆层,所述光纤内纤芯和涂覆层之间设置有包层,所述包层靠近光源一端的外壁以及包层靠近微型光谱检测仪一端的外壁设置有伸缩框,所述伸缩框中设置有超磁致伸缩材料,所述光源远离光纤的一侧以及微型光谱检测仪远离光纤的一侧设置有连接桩,所述连接桩远离光源的一端设置有固定框,所述固定框的底端设置有底座。
优选的,所述连接桩有四个,分别位于光源和微型光谱检测仪远离光纤的一端对称分布。
优选的,所述底座有两个,且位于固定框底端的两端对称分布。
优选的,所述超磁致伸缩材料带有小刺尖,且小刺尖随机分布。
优选的,所述伸缩框有两个,且位于包层靠近光源和微型光谱检测仪一端的外壁上下对称分布。
优选的,所述伸缩框贯穿包层的外壁。
优选的,所述超磁致伸缩材料为长方体。
优选的,所述超磁致伸缩材料的底端位于光纤的外侧。
与现有技术相比,本发明的有益效果如下:
本发明通过超磁致伸缩材料的伸缩状态捕获磁场强度的改变,进而通过光纤包层的折射率的改变,得到光纤的光谱,从而获得磁场强度的测量值,测量精度较高,且光纤的透射特性对折射率十分敏感的特性,使得测量更加灵敏精确。而且超磁致伸缩材料会带来光纤局部的弯曲,使得局部重量增加进而发生形变,且小尖刺会有更明显的形变作用。此外,小尖刺会有一个尖端效应,它对磁场的灵敏度更高,从而产生更大的形变。多重形变使得装置更加灵敏,从而实现更高灵敏度的磁场强度检测。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为本发明的伸缩框结构示意图;
图3为本发明的超磁致伸缩材料结构示意图。
图中:1、光源;2、微型光谱检测仪;3、光纤;31、纤芯;32、涂覆层;33、包层; 4、伸缩框;5、超磁致伸缩材料;6、连接桩; 7、固定框;8、底座。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
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