[发明专利]一种飞行时间法和结构光法相融合的结构光三维成像系统及方法有效
| 申请号: | 202110171590.4 | 申请日: | 2021-02-08 |
| 公开(公告)号: | CN112987021B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
| 发明(设计)人: | 杨涛;彭磊;姜军委;马力;奈斌;雷洁;周翔 | 申请(专利权)人: | 革点科技(深圳)有限公司 |
| 主分类号: | G01S17/894 | 分类号: | G01S17/894 |
| 代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
| 地址: | 518054 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 飞行 时间 结构 法相 融合 三维 成像 系统 方法 | ||
1.一种飞行时间法和结构光法相融合的结构光三维成像方法,其特征在于,包含以下步骤:
(一)搭建基于MEMS的飞行时间法和结构光法的混合成像系统;包括光学投射器和图像传感器,光学投射器用于投射结构光光场,以及发射和接收用于飞行时间成像的激光信息;图像传感器用于拍摄结构光经过被测物反射以后的结构光信息;光学投射器由光电探测器,第一激光器,第一半反半透光学组件,第二激光器,第二半反半透光学组件,二维MEMS微镜组成;其中第一激光器用于发射波长为λ1的激光,所发射的激光经过第一半反半透光学组件反射以后,再经过第二半反半透光学组件反射,入射到二维MEMS微镜,并被反射到物体表面;波长为λ1的激光在经过物体的反射后经过二维MEMS微镜和第二半反半透光学组件反射,再透过第一半反半透光学组件照射在光电探测器上,完成激光的发射和探测接收过程;第二激光器发出波长为λ2的激光,透过第二半反半透光学组件,经过二维MEMS微镜的反射,照射在物体上;通过控制MEMS微镜的运动,完成波长为λ1的激光的全场扫描;通过控制MEMS微镜的运动和第二激光器的光强,向物体表面投射预定的结构光光场;混合成像系统至少还包含一个计算机系统,用于完成数据的采集和处理;
(二)标定投射系统和相机之间的坐标变换关系;
(三)采集飞行时间法和结构光法的数据;
(四)使用飞行时间法重建低精度三维数据;
(五)使用低精度三维数据和结构光法重建近距离高精度三维数据;使用单帧相位提取方法,或者相移法获得高频包裹相位图;进而使用步骤(三)中的相机视角下的飞行时间深度数据,将包裹相位展开为绝对相位;最后,通过相位匹配得到精确的飞行时间深度图;
(六)对低精度三维数据和高精度三维数据进行融合;所述步骤(六),对相机视角下的飞行时间深度数据和结构光深度数据进行融合;融合的原则是,近处使用高精度的结构光深度数据,远处使用飞行时间深度数据,近处缺失飞行时间深度数据或者远处缺失结构光深度数据时,使用另外一种数据填充。
2.如权利要求1所述的结构光三维成像方法,其特征在于:
所述的第一半反半透光学组件对波长λ1是半反半透的;所述的第二半反半透光学组件对波长λ1是反射的,对波长λ2是透射的;所述MEMS微镜对波长λ1和波长λ2均有良好的反射特性;
所述波长λ1和波长λ2优选不同波段的激光;波长λ1和波长λ2可以相等,此时,通过选择合适的激光功率,以及合适灵敏度的光电探测器,以保证在光电探测器端检测到第一激光器的信号。
3.如权利要求1所述的结构光三维成像方法,其特征在于:所述结构光是基于相位编码的条纹投影结构光,或者结构光是基于伪随机点阵的条纹投影结构光、或者最小编码的条纹投影结构光、或者格雷码的条纹投影结构光、或者网格编码的条纹投影结构光。
4.如权利要求1所述的结构光三维成像方法,其特征在于:
所述步骤(二),向标定平面投射不同方向的正余弦条纹图,使用相机拍摄包含相位信息的条纹图,求解相位,从而标定出投射系统和采集系统之间的内参和外参。
5.如权利要求1所述的结构光三维成像方法,其特征在于:所述步骤(三)中,使用光电探测器采集扫描像素点的飞行时间数据,使用相机曝光采集全场的结构光深度数据;
采集飞行时间深度数据,此处的采集帧速率要满足一下约束:
其中,c是光在空气中的速度,D是测量范围,H和V是深度图分辨率,f是最大采集帧速率,即扫描的帧速率;
当飞行时间探测器在逐点扫描时,同步调整激光器的亮度,完成结构光的投射和采集;采集的条纹投影结构光的帧速率也为f。
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