[发明专利]基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种基于光弹性的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

采用初始偏振光入射待检测材料，并检测所述初始偏振光经过所述待检测材料双折射产生的椭圆偏振光的偏振信息；

基于所述偏振信息确定光弹性应力值，并根据所述光弹性应力值生成应力分布图像；

通过深度学习网络，对所述应力分布图像进行特征提取识别，得到缺陷特征信息；

其中，所述检测所述偏振光经过所述待检测材料双折射产生的椭圆偏振光的偏振信息包括：

将所述椭圆偏振光通过相位共轭镜、半波片和分束镜进行作用，得到至少三束处理光束，并采集每个所述处理光束对应的光强，其中，一束所述处理光束生成过程中包含相位共轭镜作用，另一束所述处理光束生成过程中包含相位共轭镜和半波片的共同作用，所述处理光束受到所述相位共轭镜作用前，已至少经历一次所述分束镜作用；

基于每个所述处理光束对应的光强，确定所述椭圆偏振光的偏振信息；

其中，所述将所述椭圆偏振光通过相位共轭镜、半波片和分束镜进行作用，得到至少三束处理光束，并采集每个所述处理光束对应的光强包括：

采集所述椭圆偏振光L的光强I₁；

将所述椭圆偏振光L经过分束镜得到的光束，作为分束光束LH；

将所述分束光束LH经过相位共轭镜得到的光束，作为第一光束L1；

将所述分束光束LH依次经过相位共轭镜和半波片得到的光束，作为第二光束L2；

采用所述第一光束L1与分束光束LH进行光束叠加，得到第三光束L3，并采集所述第三光束L3的光强I₂；

采用第二光束L2与所述分束光束LH进行光束叠加，得到第四光束L4，并采集所述第四光束L4的光强I₃。

2.如权利要求1所述的基于光弹性的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述偏振信息确定光弹性应力值包括：

基于所述偏振信息，计算所述待检测材料的穆勒矩阵；

提取所述穆勒矩阵中应力双折射产生的相位延迟量；

根据所述相位延迟量，确定待测光弹性材料的光弹性应力值。

3.如权利要求2所述的基于光弹性的缺陷检测方法，其特征在于，基于所述偏振信息，计算所述待检测材料的穆勒矩阵包括：

将初始偏振光的偏振态采用斯托克斯矢量表示，得到初始偏振光的参量信息；

结合所述初始偏振光的参量信息与所述偏振信息，计算得到所述待检测材料的穆勒矩阵。

4.如权利要求1所述的基于光弹性的缺陷检测方法，其特征在于，所述深度学习网络为深度多分支特征融合网络，所述深度多分支特征融合网络为并行分支网络，所述通过深度学习网络，对所述应力分布图像进行特征提取识别，得到缺陷特征信息包括：

将所述应力分布图像输入到所述深度多分支特征融合网络的N个分支网络中，其中，每个分支网络对应不同的膨胀率，N为大于1的正整数；

采用每个所述分支网络对输入其中的应力分布图像进行特征提取，得到N个特征提取结果；

对所述N个特征提取结果进行点卷积处理，得到融合特征；

基于所述融合特征，确定待检测材料的缺陷信息。