[发明专利]辐射杂散检测方法、检测装置和可读存储介质

说明书

本发明公开了一种辐射杂散检测方法、检测装置和可读存储介质，所述检测方法应用于辐射体，所述辐射体包括多个，所述检测方法包括：控制多个辐射体发射频率不同的电磁波；接收每一所述辐射体发射的电磁波，依据所述辐射体发射的电磁波获得所述辐射体的辐射频率；依据所述辐射频率获取所述辐射频率对应的辐射功率；将所述辐射功率和预设的标准功率进行对比，判断所述辐射体是否合格。本发明技术方案能够节省测试的时间，提高测试的效率。

技术领域

本发明涉及信号检测技术领域，尤其涉及一种辐射杂散检测方法、检测装置和可读存储介质。

背景技术

RES(Radiated Spurious Emission，辐射杂散)测试是各种电子产品的一项射频指标，辐射杂散测试用于衡量电子产品的谐波带来的无线电波串扰，对其他电子产品的影响。

目前对电子产品的辐射杂散测试是逐一完成的，测试的时间花费较长，导致测试的效率低下。

发明内容

基于此，针对目前电子产品的辐射杂散测试是逐一完成的，测试的时间花费较长，导致测试的效率低下的问题，有必要提供一种辐射杂散检测方法、检测装置和可读存储介质，旨在能够节省测试的时间，提高测试的效率。

为实现上述目的，本发明提出的一种辐射杂散检测方法，所述检测方法应用于辐射体，所述辐射体包括多个，所述检测方法包括：

控制多个辐射体发射频率不同的电磁波；

接收每一所述辐射体发射的电磁波，依据所述辐射体发射的电磁波获得所述辐射体的辐射频率；

依据所述辐射频率获取所述辐射频率对应的辐射功率；

将所述辐射功率和预设的标准功率进行对比，判断所述辐射体是否合格。

可选地，所述控制多个所述辐射体发射频率不同的电磁波的步骤，包括：

控制多个所述辐射体按照预设的频率间隔发射电磁波，其中，每一所述电磁波的发射频率固定。

可选地，所述辐射频率还包括谐波频率，所述辐射功率包括所述谐波频率对应的辐射功率；

所述将所述辐射功率和预设的标准功率进行对比，判断所述辐射体是否合格的步骤，包括：

将所述谐波频率对应的辐射功率和预设的标准功率对比；

若所述谐波频率对应的辐射功率大于所述标准功率，则所述辐射体不合格；

若所述谐波频率对应的辐射功率小于或等于所述标准功率，则所述辐射体合格。

可选地，所述依据所述辐射频率获取所述辐射频率对应的辐射功率的步骤，包括：

依据所述辐射频率获取对应的多组辐射能量值；

将多组所述辐射能量值求和平均计算得出所述辐射体的辐射功率。

可选地，所述天线包括多个，多个所述天线设置于多个所述辐射体的四周；

所述接收每一所述辐射体发射的电磁波，依据所述辐射体发射的电磁波获得所述辐射体的辐射频率的步骤，包括：

控制多个所述天线依次开启，通过开启的天线接收每一所述辐射体发射的电磁波；

依据所述辐射体发射的电磁波获得所述辐射体的辐射频率。

可选地，所述控制多个所述辐射体发射不同频率的电磁波的步骤之前，包括：

将所述辐射体置于屏蔽外界电磁干扰的环境中。

此外，为了实现上述目的，本发明还提供一种辐射杂散检测装置，所述检测装置应用于辐射体，所述辐射体包括多个，所述检测装置包括：