[发明专利]一种仪表芯片的精度测试装置及其使用方法

说明书

本发明涉及仪表芯片精度测试装置技术领域，尤其涉及一种仪表芯片的精度测试装置及其使用方法。本发明要解决的是一种仪表芯片的精度测试装置的技术问题。为了解决上述技术问题，本发明提供了一种仪表芯片的精度测试装置及调节方法，本发明通过便携机构、快速测试机构和打磨清洁机构。本发明设置的便携机构，使本装置可以方便携带与不受场所限制可以工作，且具有质量轻盈，结构简单，便于操作的优点；加装的快速测试机构，解决了现有检测仪表芯片直径的时候，需要人工检测和读取数字的麻烦，且本装置具有成本小，结构简单以及快速读取的优点。

技术领域

本发明涉及一种仪表芯片的精度测试装置，具体是一种仪表芯片的精度测试装置及其使用方法，属于仪表芯片精度测试装置技术领域。

背景技术

不同的仪表供bai应商会使用不同的du控制芯片zhi，一般全液晶仪表采用两dao块芯片去zhuan控制仪表的显示和仪表的shu逻辑操作，3.5或者七寸大多采用一块芯片去控制，多为飞思卡尔的56xx系列，也有采用富士通或者东芝的ARM内核的。

仪表芯片对其尺寸的精度要求极其严格，现有的测试装置多半通过人工测试，这样会造成一定量的误差，同时人工要仔细读取数值，多次进行测试的话，不仅测试的速度慢，还大大增加了人工测试的辛苦；现有的仪表芯片测试装置不便于携带，不适应于户外或一些特殊场所使用，这样就造成了测试装置的局限性；且现有的测试装置只具备测试的功能，在一些刚加工出来的仪表芯片的表面会有一些毛刺，导致其表面不光滑，影响其表面的光滑度，且毛刺容易扎伤工人。

发明内容

本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供一种仪表芯片的精度测试装置及其使用方法。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的，一种仪表芯片的精度测试装置，包括便携机构、快速测试机构和打磨清洁机构。

所述便携机构包括便携箱和合页，所述便携箱由上盖和下盖组成，所述上盖的一侧外壁通过合页铰接有下盖，所述下盖对应的两侧内壁均固定连接有轴杆，两根所述轴杆的圆周外壁均活动套接有支杆，两根所述支杆的内部均滑动连接有滑杆，两根所述滑杆的一端末梢处均栓接有链子，两根所述链子远离滑杆的一端栓接有折叠杆，两根所述折叠杆远离链子的一侧通过轴杆均活动套接至便携箱的对应两侧内壁上。

所述快速测试机构包括底座、第一竖杆、套筒和小型直线模组，所述底座的顶端面竖直套接有第一竖杆，所述第一竖杆套接有套筒，所述套筒的外壁固定安装有小型直线模组，所述小型直线模组的表面刻有刻度线，所述小型直线模组的滑块靠近仪表芯片的边缘处固定安装有红外线传感器，所述滑块的顶端面固定安装有读数显示屏。

所述打磨清洁机构包括电机和旋转杆，所述底座的顶端面卡合有机箱，所述机箱的内部安装有电机，所述电机的输出轴固定连接有夹爪，所述夹爪卡接有仪表芯片，所述下盖的内壁固定连接有滑轨，所述滑轨滑动连接有滑块，所述滑块的顶端面固定连接有第二竖杆，第二竖杆的顶端面固定连接有打磨条，所述打磨条活动套接有旋转套筒，所述旋转套筒的外壁固定连接有旋转杆，所述旋转杆的底部分别固定连接有打磨条和清洁海绵。

优选的，所述上盖内嵌安装有蓄电池，所述便携箱远离蓄电池的CM处开设有无线蓝牙存储仓。

优选的，所述上盖的一侧内壁固定安装有蛇形管，所述蛇形管远离上盖内壁的一端固定安装有照明灯。

优选的，所述支杆的内部为空腔结构，两根所述支杆的直径大于两根折叠杆的直径不低于3CM。

优选的，所述机箱的内部结构呈“回”字型结构，所述电机内接蓄电池。

优选的，所述上盖和下盖的同一侧的外壁均固定安装有呈“C”字型的把手。

优选的，所述下盖的内壁固定连接有收纳盒，所述收纳盒的内部设置有若干块限位板，若干块所述限位板形成若干个收纳空腔。

优选的，所述红外线传感器和读数显示屏均电性连接至蓄电池上。