[发明专利]一种确定植入式闭环系统检测参数的方法、装置及系统在审
| 申请号: | 202110164477.3 | 申请日: | 2021-02-05 |
| 公开(公告)号: | CN112774033A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
| 发明(设计)人: | 赵文涵;陈新蕾;曹鹏 | 申请(专利权)人: | 杭州诺为医疗技术有限公司 |
| 主分类号: | A61N1/36 | 分类号: | A61N1/36;A61B5/37;A61B5/00 |
| 代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 王欣 |
| 地址: | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 确定 植入 闭环 系统 检测 参数 方法 装置 | ||
1.一种确定植入式闭环系统检测参数的方法,其特征在于,包括:
从历史生物电信号中,分别选择预设个数的阳性信号和阴性信号,其中,所述阳性信号表征当前生物电信号出现的时刻生物体的检测目标异常,所述阴性信号表征当前生物电信号出现的时候生物体的检测目标正常;
基于MCU中存储的算法集合中的检测算法,分别对选择的预设个数的阳性信号和预设个数的阴性信号进行拟合处理,得到每个检测算法对应的阳性检测参数集合和阴性检测参数集合;
按照预设约束条件,将每个检测算法对应的阳性检测参数集合和阴性检测参数集合进行整合,得到每个检测算法对应的检测参数集合;
将所有检测算法的检测参数集合进行组合,并基于输入的用户指令选择相匹配的检测算法,将选择的检测算法对应的检测参数微调后发送给所述MCU。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述MCU中存储的算法集合中的检测算法至少包括:
能量算法中线长算法、面积算法,和频率算法中带通算法这三者中的任意两种按照与、或、非的逻辑关系组合得到的算法。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,当检测算法为频率算法中带通算法和能量算法时,基于MCU中存储的算法集合中的检测算法,分别对选择的预设个数的阳性信号和预设个数的阴性信号进行拟合处理,得到每个检测算法对应的阳性检测参数集合和阴性检测参数集合,具体包括:
针对阳性信号,分别相对预设基准依次比对以下内容:
是否存在单一频率能量升高;是否存在整体能量变化;是否存在波动幅度变化;
根据比对结果拟合计算得到阳性信号使用频率算法中带通算法和能量算法确定的阳性检测参数集合;
针对阴性信号,分别相对预设基准依次比对以下内容:
是否存在单一频率能量升高;是否存在整体能量变化;是否存在波动幅度变化;
根据比对结果拟合计算得到阴性信号使用频率算法中带通算法和能量算法确定的阴性检测参数。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按照预设约束条件,将每个检测算法对应的阳性检测参数集合和阴性检测参数集合进行整合,得到每个检测算法对应的检测参数集合,具体包括:
按照预设约束条件,将每个检测算法对应的阳性检测参数集合和阴性检测参数集合中所属同一类型的检测参数分别进行整合,得到每个检测算法对应的检测参数集合,其中,所述检测参数集合中每个检测参数对应有整合后的参数范围。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,每个检测参数都设置有初始参数范围;
按照预设约束条件,将每个检测算法对应的阳性检测参数集合和阴性检测参数集合中所属同一类型的检测参数的范围分别进行整合,得到每个检测算法对应的检测参数集合,具体包括:
针对任一检测算法对应的所属同一类型的检测参数:
当该检测算法对应的阳性检测参数的范围不小于阴性检测参数的范围时,确定该检测算法对应所属同一类型的检测参数的取值范围为:阳性检测参数的参数取值范围,与初始参数范围中阴性检测参数的参数取值范围以外的取值范围重合的部分;
当该检测算法对应的阳性检测参数的范围小于阴性检测参数的范围时,确定该检测算法对应的所属同一类型的检测参数的取值范围为:阳性检测参数的参数取值范围。
6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将选择的检测算法对应的检测参数微调后发送给所述MCU,具体包括:
根据用户输入的基于当前效果确定的调整方案对选择的检测算法对应的所有检测参数的参数取值范围进行微调;
将微调后的所有检测参数及其参数取值范围发送给MCU。
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