[发明专利]联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法有效
申请号: | 202110153871.7 | 申请日: | 2021-02-04 |
公开(公告)号: | CN113030963B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 史林;刘利民;曾瑞;马俊涛;郭宝锋;胡文华;朱晓秀;尹园威 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军陆军工程大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 付晓娣 |
地址: | 050000 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 联合 残余 相位 消除 基地 isar 稀疏 分辨 成像 方法 | ||
1.一种联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,包括:
对预设成像弧段的双基地ISAR稀疏孔径回波信号进行预处理,得到第一回波信号;
当设置距离波门的中心坐标为等效旋转中心距离坐标时,根据所述第一回波信号将距离空变相位转化为平动残余相位,得到校正后的第二回波信号;
构造基于平动残余相位的相位误差矩阵和对应的压缩感知矩阵,根据所述基于平动残余相位的相位误差矩阵和所述压缩感知矩阵,获得符合稀疏高分辨双基地ISAR成像场景的所述第二回波信号对应的稀疏化成像模型;
基于统计先验进行图像和噪声建模,通过全贝叶斯推理稀疏,对所述稀疏化成像模型进行稀疏高分辨成像重构和残余相位误差迭代校正,输出目标重构图像。
2.如权利要求1所述的联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,所述第一回波信号为:
其中,表示经过包络对齐和相位自聚焦处理后的散射点p的第一双基地ISAR稀疏孔径回波信号,表示快时间,tm表示成像时刻,σP表示在成像时刻t0散射点P的散射系数,Tp表示双基地雷达的脉冲宽度,c表示电磁波在自由空间的传播速度,μ表示双基地雷达的调频率,Rp_rot(tm)表示所述预设成像弧段的转动项,j表示虚数,表示第m个脉冲的残余平动相位。
3.如权利要求2所述的联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,所述当设置距离波门的中心坐标为等效旋转中心距离坐标时,根据所述第一回波信号将距离空变相位转化为平动残余相位,得到校正后的第二回波信号,包括:
根据双基地角时变和转动二次项,对所述第一回波信号中的转动项进行泰勒展开处理;
根据泰勒展开处理后的转动项和所述第一回波信号,得到第三回波信号;
当设置距离波门的中心坐标为等效旋转中心距离坐标时,根据所述等效旋转中心距离坐标确定等效旋转中心位置偏移引起的距离误差量;
根据所述距离误差量将所述第三回波信号中距离空变相位相位转化为平动残余相位,得到校正后的第二回波信号。
4.如权利要求3所述的联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,所述根据双基地角时变和转动二次项,对所述第一回波信号中的转动项进行泰勒展开处理,包括:
根据对所述第一回波信号中的转动项进行泰勒展开处理;
其中,yP表示散射点P在xOy坐标系中的纵坐标值,K0、K1分别表示所述双基地时变系数的值,ω0表示表示目标等效转动角速度,xP表示散射点P在xOy坐标系中的横坐标值。
5.如权利要求4所述的联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,所述第三回波信号为
其中,表示所述第三回波信号,表示所述第三回波信号中除距离坐标相关项的部分,表示不含距离空变相位项和平动残余相位误差的部分。
6.如权利要求4或5所述的联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,所述距离误差量为
YΔ=(nc-N/2)Δy;
其中,YΔ表示所述距离误差量,nc表示等效旋转中心的实际离散下标,N表示距离波门内选定的有效成像区域对应的距离单元个数,Δy表示一个距离单元对应的长度。
7.如权利要求6所述的联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,其特征在于,所述第二回波信号为
其中,表示所述第二回波信号,φm表示表示将距离空变项误差转化为平动残余误差项后,更新后的平动残余相位项。
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