[发明专利]鬼影检测方法、鬼影检测装置和可读存储介质

说明书

本发明公开了一种鬼影检测方法、鬼影检测装置和可读存储介质，所述检测方法应用于光学模组，所述光学模组中设有镜头，所述检测方法包括：获取光学模组成像显示的第一前景图和第二前景图，其中，所述第一前景图和所述第二前景图在镜头不同的转动角度下获取并处理得到；将所述第一前景图和所述第二前景图进行像素对比获得变化的像素值；依据所述变化的像素值确定鬼影；依据所述鬼影所在位置的像素点计算鬼影值。本发明技术方案能够效检测得出光学模组中存在的鬼影数值，便于针对鬼影现象进行改进优化处理。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种鬼影检测方法、鬼影检测装置和可读存储介质。

背景技术

光学模组为使用者提供关于视觉、听觉、触觉等感官的模拟，让使用者如身临其境一般。在医学、娱乐、军事航天、室内设计、房产开发、康复训练等领域有广泛应用，其成像质量的好坏是影响产品质量的一个重要因素，如在使用光学模组时，有较严重的鬼影现象，将会严重影响使用者的沉浸感。

然而，目前，缺乏较为完善的光学模组鬼影定量检测方案，因此难以针对鬼影现象进行改进优化处理。

发明内容

基于此，针对目前缺乏较为完善的光学模组鬼影定量检测方案，难以针对鬼影现象进行改进优化处理的问题，有必要提供一种鬼影检测方法、鬼影检测装置和可读存储介质，旨在能够有效检测得出光学模组中存在的鬼影数值，便于针对鬼影现象进行改进优化处理。

为实现上述目的，本发明提出的一种鬼影检测方法，所述检测方法应用于光学模组，所述光学模组中设有镜头，所述检测方法包括：

获取光学模组成像显示的第一前景图和第二前景图，其中，所述第一前景图和所述第二前景图在镜头不同的转动角度下获取并处理得到；

将所述第一前景图和所述第二前景图进行像素对比获得变化的像素值；

依据所述变化的像素值确定鬼影；

依据所述鬼影所在位置的像素点计算鬼影值。

可选地，所述获取光学模组成像显示的第一前景图和第二前景图的步骤，还包括：

获取所述光学模组成像的第一图像，去除所述第一图像的背景获得所述第一图像的第一前景图；

获取所述光学模组成像的第二图像，去除所述第二图像的背景获得所述第二图像的第二前景图。

可选地，所述获取光学模组成像显示的第一前景图和第二前景图的步骤，包括：

获取光学模组成像显示的第一前景图；

逆时针或者顺时针转动所述镜头；

基于转动的镜头获取所述光学模组成像显示的第二前景图，其中，所述镜头的转动角度小于或等于5°。

可选地，所述将所述第一前景图和所述第二前景图进行像素对比获得变化的像素值的步骤，包括：

获得所述第一前景图的像素值之和、以及所述第二前景图的像素值之和；

将所述第一前景图的像素值之和与所述第二前景图的像素值之和差值处理，获得变化的像素值。

可选地，所述依据所述鬼影计算鬼影值的步骤，包括：

设定鬼影的像素值之和为F0(j)，所述鬼影对应的像素个数为K0，则所述鬼影值为F0(j)与K0的比值。

可选地，所述依据所述变化的像素值确定鬼影的步骤，包括：

选定对应所述第一前景图和所述第二前景图的前景目标；

判断所述前景目标是否为鬼影；