[发明专利]测试数据处理方法、装置、电子设备以及存储介质

说明书

本公开公开了一种用于控制设备的测试数据处理方法、装置、电子设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术领域，尤其涉及测试技术领域。具体实现方案为：获得待测试设备的当前可用存储空间量；基于当前可用存储空间量，将多个测试数据划分为n个数据集合，每个数据集合的数据量均小于当前可用存储空间量，n为大于等于2的整数；以及依次将n个数据集合发送至待测试设备，以使待测试设备依次利用n个数据集合对待测试设备中的功能模块进行测试。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及测试技术领域。

背景技术

随着科学技术的快速发展，手机、音箱等电子设备可以实现越来越多的功能，为了保证设备中的功能模块能够达到预期效果，需要在设备上对功能模块进行测试。现有技术中，有些情况下，测试数据量会很大，然而设备的存储空间非常有限，导致设备无法存放测试数据的问题，并且现有技术中是通过人工向测试设备传输测试数据，人力成本高。

发明内容

本公开提供了一种测试数据处理方法、装置、电子设备、存储介质以及程序产品。

根据本公开的一方面，提供了一种由控制设备执行的测试数据处理方法，包括：获得待测试设备的当前可用存储空间量；基于所述当前可用存储空间量，将多个测试数据划分为n个数据集合，每个所述数据集合的数据量均小于所述当前可用存储空间量，n为大于等于2的整数；以及依次将所述n个数据集合发送至所述待测试设备，以使所述待测试设备依次利用所述n个数据集合对所述待测试设备中的功能模块进行测试。

根据本公开的另一方面，提供了一种用于控制设备执行的测试数据处理装置，包括：获取模块，用于获得待测试设备的当前可用存储空间量；划分模块，用于基于所述当前可用存储空间量，将多个测试数据划分为n个数据集合，每个所述数据集合的数据量均小于所述当前可用存储空间量，n为大于等于2的整数；以及发送模块，用于依次将所述n个数据集合发送至所述待测试设备，以使所述待测试设备依次利用所述n个数据集合对所述待测试设备中的功能模块进行测试。

根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行如上所述的方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现如上所述的方法。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：

图1示意性示出了根据本公开实施例的测试数据处理方法的示例性系统架构；

图2示意性示出了根据本公开一实施例的测试数据处理方法的流程图；

图3示意性示出了根据本公开实施例的发送数据集合的流程图；

图4示意性示出了根据本公开实施例的控制设备各模块与待测试设备的交互示意图；

图5是用来实现本公开实施例的测试数据处理装置的框图；

图6示出了可以用来实施本公开的实施例的示例电子设备的示意性框图。

具体实施方式