[发明专利]基于KEPLS的生产过程质量预测与控制方法在审
申请号: | 202110139200.5 | 申请日: | 2021-02-01 |
公开(公告)号: | CN112859790A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 刘金涛 | 申请(专利权)人: | 刘金涛 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 石家庄中和昇知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 13145 | 代理人: | 付会平 |
地址: | 050051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 kepls 生产过程 质量 预测 控制 方法 | ||
1.基于KEPLS的生产过程质量预测与控制方法,其特征在于,具体包括以下步骤:
A.建立KEPLS模型,
B.基于IFS-KEPLS新算法进行生产过程在线监测及质量预测;
C.当步骤B进行质量预测的过程中,预测值严重偏离标准预测曲线时,采用SV-KCD与KEPLS组合算法进行生产过程质量控制。
2.根据权利要求1所述的基于KEPLS的生产过程质量预测与控制方法,其特征在于,首先计算数据的KEPLS模型,具体计算步骤为:
A1.计算过程变量X在高维空间的得分向量ti,单位化ti;
A2.计算质量变量的负载矩阵,qi=YTti;
A3.计算质量变量的得分矩阵为ui=Yqi,单位化ui;
A4.迭代计算A2~A4,直到得分矩阵ui收敛;
A5.根据下式计算核矩阵的特征Φ(x)与PLS中广义特征Y的残差信息,
其中,K为N*N的核矩阵,表示特征Φ(x)的残差信息。
3.根据权利要求1所述的基于KEPLS的生产过程质量预测与控制方法,其特征在于,KEPLS模型的计算方法为:
首先,通过核映射将数据从低维输入空间投影到高维特征空间,将数据的非线性转化为线性,然后在高维特征空间内根据熵的大小选取特征,进行数据的降维;
其次,以信息熵作为衡量系统不确定性量度,采用Renyi熵作为成分分析的方法,定义:
H(p)=-lg∫p2(x)dx
其中,p(x)为数据D的概率密度函数;
上述函数为单调函数,将函数表示为如下表达式:
V(p)=∫p2(x)dx
采用Parzen窗密度对其进行估计,
将带入上式得,
选用高斯函数作为核函数,则,
其中,I为N×1的全1向量;K为N×N的核矩阵;
然后,对核矩阵K进行特征分解,
K=ΦTΦ=EDET
其中,D=diag(λ1,…,λN),E是D对应的特征向量阵,
E=(e1,…eN)
则,
最后,根据PLS算法中广义特征向量XTYYTXω,而ω是广义特征矩阵的最大特征值对应的特征向量,则:
XTYYTXω=λω
X的得分向量t的计算公式如下:
t=Xω
在特征空间中ω和t核化处理公式为:
XXTYYTXω=λXω
ω为权值向量,
分解后的,
KYYTt=λt;
XXTYYTt=λt
再通过计算相应的Renyi熵值,选择对Renyi熵值估计贡献量最大的特征值以及对应的特征向量,该向量即是KEPLS中过程变量X的得分向量t,根据得分向量t的值计算质量变量的得分矩阵u。
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