[发明专利]无损检测反射干扰去除方法、装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202110138699.8 申请日: 2021-02-01
公开(公告)号: CN112907466A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 田裕鹏;张佳丽;施金辰 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/00;G06N3/04
代理公司: 广东君龙律师事务所 44470 代理人: 金永刚
地址: 210000 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 无损 检测 反射 干扰 去除 方法 装置 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,包括步骤:

红外视频采集,在具有缺陷的待测对象上施加热源,获取可区分所述待测对象上的所述缺陷所在区域和非缺陷所在区域的红外视频,所述红外视频包括所述待测对象上无反射干扰的无反射视频和所述待测对象上具有反射干扰的反射视频;

红外视频处理,将所述无反射视频和所述反射视频进行解帧,分别获得无反射图像和反射图像,按解帧次序将所述无反射图像与所述反射图像一一对应,进而组成训练图像;

对抗网络训练,构建包括生成器和判别器的对抗网络,将所述训练图像输入到所述对抗网络,对所述对抗网络进行训练获得去反射模型,由所述去反射模型去除反射干扰。

2.根据权利要求1所述的无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,将所述待测对象固定,使用阻挡反射源的挡板合围在所述待测对象外围,所述热源设置在所述待测对象的正前方,在昏暗环境下使用红外热成像设备拍摄所述待测对象,得到所述无反射视频。

3.根据权利要求2所述的无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,在不改变获取所述无反射视频时的待测对象、挡板、热源、红外热成像设备的位置的情况下,在所述待测对象的前侧设置光滑平面的反射体,所述反射体产生的干扰反射到所述待测对象上,使用所述红外热成像设备拍摄所述待测对象,得到所述反射视频。

4.根据权利要求3所述的无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,以所述待测对象为圆心移动所述反射体,所述反射体产生的干扰反射到所述待测对象上时,反射干扰在所述待测对象上的位置对应的进行变化,进而获得具有多个位置不同的反射干扰的反射视频。

5.根据权利要求4所述的无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,调整所述热源的温度,获取多组在不同温度下具有多个位置不同的反射干扰的反射视频。

6.根据权利要求5所述的无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,截取所述无反射图像和所述反射图像中所述待测对象的所在区域,分别获取大小相同的无反射截取图像和反射截取图像,将所述无反射截取图像和所述反射截取图像放大或缩小,获得无反射训练图像和反射训练图像,由所述无反射训练图像和所述反射训练图像组成所述训练图像。

7.根据权利要求6所述的无损检测反射干扰去除方法,其特征在于,将所述反射训练图像输入到所述生成器中,所述生成器进行反射训练图像的去反射干扰任务,获得去反射图像,所述无反射训练图像和所述去反射图像输入到所述判别器内,所述判别器通过损失函数对所述无反射训练图像和所述去反射图像进行对抗损失计算,交替训练对抗网络中的生成器和判别器,若所述损失函数的损失值稳定,完成对所述对抗网络的训练获得所述去反射模型。

8.一种无损检测反射干扰去除装置,其特征在于,包括处理模块和训练模块;

处理模块,用于将所述无反射视频和所述反射视频进行解帧,分别获得无反射图像和反射图像,按解帧次序将所述无反射图像与所述反射图像一一对应,进而组成训练图像;

训练模块,包括生成器和判别器的对抗网络,用于将所述训练图像输入到所述对抗网络,对所述对抗网络进行训练获得去反射模型,由所述去反射模型去除反射干扰。

9.一种无损检测反射干扰去除装置,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于读取并执行所述存储器中存储的所述计算机程序,当所述计算机程序被执行时,所述处理器执行如权利要求1-7中任一项所述的无损检测反射干扰去除方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当所述计算机指令在计算机上运行时,使得所述计算机执行如权利要求1-7中任一项所述的无损检测反射干扰去除方法。

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