[发明专利]一种图像校正方法有效
| 申请号: | 202110138066.7 | 申请日: | 2020-04-16 |
| 公开(公告)号: | CN113038024B | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
| 发明(设计)人: | 崔志立;李运祥;张有为;魏青 | 申请(专利权)人: | 北京纳米维景科技有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235;H04N5/32 |
| 代理公司: | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人: | 陈曦;任佳 |
| 地址: | 100094 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 图像 校正 方法 | ||
1.一种图像校正方法,其特征在于包括如下步骤:
步骤S1:获得每个X射线源初始参考像素值和当前图像参考像素值;
步骤S2:正常采集图像时,根据所述每个X射线源初始参考像素值和所述当前图像参考像素值,对获得的每个X射线源的当前图像进行KV校正;
步骤S3:获得每个X射线源输出的X射线的KV校正模板系数;
步骤S4:根据X射线的KV校正模板系数,对步骤S2的图像进行KV校正,
其中,
在所述X射线源不发射X射线的情况下,获得每个所述X射线源暗场图像的像素的灰度值平均值,作为每个所述X射线源的暗场模板,在确保投影区域内没有任何物体时,将获得的每个所述X射线源对应的多张投影图像的像素的灰度值取平均后,分别减去对应的X射线源的暗场模板,以作为每个所述X射线源的空气校正模板,对每个所述X射线源的所述空气校正模板,在距离左边多个像素的那一列的所有像素的均值,和距离右边多个像素的那一列的均值,取其中较大的像素均值作为每个所述X射线源的所述初始参考像素值;
对每个所述X射线源对应的实际投影图像,在距离左边多个像素的那一列的所有像素的均值,和距离右边多个像素的那一列的均值,取其中较大的像素均值作为每个所述X射线源的所述当前图像参考像素值;
所述X射线的KV水平为X射线的第一能量累积值和第二能量累积值的比值,所述X射线的KV水平做归一化处理,得到所述KV校正模板系数;
对图像进行KV校正时,将每个所述X射线源曝光后得到的图像的像素灰度值与对应的X射线源的空气校正模板的像素灰度值的比值,除以对应的KV校正模板系数。
2.如权利要求1所述的图像校正方法,其特征在于步骤S1包括如下子步骤:
步骤S11:针对每个所述X射线源,分别获得暗场模板和空气校正模板;
步骤S12:根据每个所述X射线源的所述空气校正模板,得到每个所述X射线源的初始参考像素值;
步骤S13:获得每个所述X射线源对应的实际投影图像,并根据每个所述X射线源对应的实际投影图像,得到每个所述X射线源的所述当前图像参考像素值。
3.如权利要求2所述的图像校正方法,其特征在于:
在正常采集图像时,将获得的每个X射线源曝光后得到的图像的每个像素,分别乘以对应的X射线源的初始参考像素值与当前图像参考像素值的比值,以得到图像整体灰度值一致的一组图像。
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