[发明专利]显示面板、亮度检测方法及显示装置在审

专利信息
申请号: 202110135475.1 申请日: 2021-02-01
公开(公告)号: CN112767879A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 宋强强;郭亮亮 申请(专利权)人: 武汉天马微电子有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208;G09G3/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 彭琼
地址: 430074 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 亮度 检测 方法 显示装置
【说明书】:

本申请公开了一种显示面板、亮度检测方法及显示装置。显示面板包括显示区,显示区包括第一显示区和第二显示区,第一显示区的像素密度小于第二显示区的像素密度;第二显示区包括第一区域,第一区域包括第一像素和第二像素;在第一区域中,第一像素的密度与第一显示区的像素密度相同,且第一像素的排布方式与第一显示区内的像素排布方式相同;像素电路,像素电路包括第一像素电路和第二像素电路,第一像素电路和第一像素电连接;第二像素电路和第二像素电连接,第二像素电路包括第一晶体管,第一晶体管用于在亮度检测状态时,使第二像素处于非显示状态。根据本申请实施例,能够提高对第一显示区亮度检测的准确性。

技术领域

本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板、亮度检测方法及显示装置。

背景技术

随着显示技术的不断发展,用户对屏占比的要求越来越高,使得全面屏显示受到业界越来越多的关注。

目前出现了屏下摄像头的设计,将显示面板的显示区划分为副屏区和主屏区,副屏区对应设置摄像头等感光元件。副屏区的面积一般设置的比较小,由于现有的亮度检测装置中镜头的面积比较大,导致在对副屏区进行伽马(gamma)调试时,难以准确的测量副屏区的亮度。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板、亮度检测方法及显示装置,能够提高对第一显示区亮度检测的准确性。

第一方面,本申请实施例提供一种显示面板,包括:显示区,显示区包括第一显示区和第二显示区,第一显示区的像素密度小于第二显示区的像素密度;第二显示区包括第一区域,第一区域包括第一像素和第二像素;在第一区域中,第一像素的密度与第一显示区的像素密度相同,且第一像素的排布方式与第一显示区内的像素排布方式相同;像素电路,像素电路包括第一像素电路和第二像素电路,第一像素电路和第一像素电连接;第二像素电路和第二像素电连接,第二像素电路包括第一晶体管,第一晶体管用于在亮度检测状态时,使第二像素处于非显示状态。

第二方面,基于同一发明构思,本申请实施例提供一种亮度检测方法,用于检测如第一方面所述显示面板的亮度,该亮度检测方法包括:控制第一像素处于显示状态,并控制第一晶体管处于截止状态,以使第二像素处于非显示状态;获取第一区域的第一实测亮度数据,并将第一实测亮度数据存储为第一显示区的至少部分亮度数据。

第三方面,基于同一发明构思,本申请实施例提供一种显示装置,包括如第一方面所述的显示面板。

本申请实施例提供的显示面板、亮度检测方法及显示装置,第二像素电路包括第一晶体管,第一晶体管在亮度检测状态时,能够使第二像素处于非显示状态,也就是说,可以使第一区域的第一像素处于显示状态,第二像素处于非显示状态,利用第一区域模拟第一显示区的显示情况,一方面,可以通过检测第一区域的亮度数据作为第一显示区的亮度数据,并且可以根据通用的亮度检测装置的镜头尺寸调整第一区域的尺寸,无需为了第一显示区在定做小尺寸的亮度检测装置的镜头;另一方面,相对于利用模拟信号的方式使第二像素不发光,例如,在电源电压PVDD一定时,通过增大提供至第二像素的数据电压的值,以使第二像素不发光,本申请中利用第一晶体管直接断开第二像素,使得第一区域的数据线的负载更符合或者说接近第一显示区数据线负载的实际情况,从而检测到的第一区域的亮度数据更符合第一显示区的实际亮度;又一方面,本申请中利用第一晶体管能够使第二像素达到完全不亮的状态,从而能够更好的模拟第一显示区的显示情况。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征,附图并未按照实际的比例绘制。

图1示出本申请实施例提供的一种显示面板的俯视示意图;

图2至图15示出本申请实施例提供的多种第二像素电路的结构示意图;

图16示出本申请实施例提供的一种第一像素电路的结构示意图;

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