[发明专利]整体叶环叶片上多余材料区域的实际加工曲面重构方法及系统

权利要求书

1.一种整体叶环叶片上多余材料区域的实际加工曲面重构方法，其特征在于，包括：

确定工件的多余材料区域，将工件上多余材料区域的相邻曲面确定为测量区域，在测量区域上规划理论测量点；

根据所述理论测量点对工件进行在机测量，得到第一实际测量点，计算所述第一实际测量点与理论测量点的偏差分量，根据偏差分量筛选出与所述理论测量点偏差较大的第一实际测量点并将其剔除；

将筛选过后的第一实际测量点和理论测量点进行点云匹配计算，得到第二实际测量点；

基于所述第二实际测量点对所述多余材料区域进行偏差拟合计算，得到所述多余材料区域的实际曲面点数据；

利用所述实际曲面点数据进行重构得到所述多余材料区域的实际加工曲面，以使实际加工曲面与相邻曲面光滑连接。

2.根据权利要求1所述的整体叶环叶片上多余材料区域的实际加工曲面重构方法，其特征在于：所述在测量区域上规划理论测量点包括：

在测量区域上定义第一方向u和第二方向v，确定第一方向u和第二方向v的参数范围为u∈[u_l,u_h],v∈[v_l,v_h]；

在第一方向u的区间内确定m行，在第二方向v的区间内确定n列，获得m行n列的理论测量点P_i(i＝1，2，…，m*n)。

3.根据权利要求1所述的整体叶环叶片上多余材料区域的实际加工曲面重构方法，其特征在于：根据所述理论测量点对工件进行在机测量，得到第一实际测量点包括：

按照在机测量的探测过程定义，计算各理论测量点P_i的测量路径，将理论测量点P_i(i＝1，2，…，m*n)逐点连接构成全部理论测量点的测量路径C；

根据所述测量路径C对工件进行测量，得到各理论测量点P_i的第一实际测量点P_ai(i＝1，2，…，m*n)，其中理论测量点P_i与第一实际测量点P_ai一一对应。

4.根据权利要求1所述的整体叶环叶片上多余材料区域的实际加工曲面重构方法，其特征在于：计算所述第一实际测量点与理论测量点的偏差分量，根据偏差分量筛选出与所述理论测量点偏差较大的第一实际测量点并将其剔除包括：

从第一实际测量点P_ai中提取出每行的点集数据，对每行的点集数据逐点计算其偏差分量Δxi、Δyi和Δzi，计算公式如下：

Δxi＝P_aix-P_ix (1)

Δyi＝P_aiy-P_iy (2)

Δzi＝P_aiz-P_iz (3)

其中P_aix、P_aiy和P_aiz为第一实际测量点P_ai的坐标分量，P_ix、P_iy和P_iz为理论测量点P_i的坐标分量；

将每行的点集数据逐点绘制其折线图，根据折线图剔除偏差分量值存在突变的第一实际测量点P_ai。