[发明专利]一种I/F电路及其校准方法、校准装置有效

专利信息
申请号: 202110119910.1 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN112946456B 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 欧阳英图;范源;张特;李泽昀 申请(专利权)人: 湖南航天机电设备与特种材料研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01C21/16;G01C25/00
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 郭立中;张珉瑞
地址: 410205 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 电路 及其 校准 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种I/F电路的校准方法,包括如下步骤:

S1、采集积分电路在放电状态下的Δ′的值;Δ′为相邻两次采样值之差,采样值为积分电容两端的压降值;

S2、将Δ′的值作为标准电压U0以对I/F电路进行校准。

2.根据权利要求1所述的I/F电路的校准方法,其特征在于:所述标准电压U0的计算公式为:

U0=Δ-Δ′或U0=Δ′-Δ;

其中Δ是指积分电路在充电状态下的相邻两次采样值之差,Δ的值为0;采样值为积分电容两端的压降值。

3.一种I/F电路的校准装置,包括处理器;其特征在于:所述处理器用于将Δ′的值作为标准电压U0以对I/F电路进行校准;所述Δ′是指积分电路在放电状态下的相邻两次采样值之差,采样值为积分电容两端的压降值。

4.根据权利要求3所述的I/F电路的校准装置,其特征在于:所述标准电压U0的计算公式为:

U0=Δ-Δ′或U0=Δ′-Δ;

其中Δ是指积分电路在充电状态下的相邻两次采样值之差,Δ的值为0;采样值为积分电容两端的压降值。

5.根据权利要求3或4所述的I/F电路的校准装置,其特征在于:所述处理器包括AD芯片和采集处理电路,所述AD芯片用于采集积分电路在放电状态下的Δ′的值,并将Δ′的值发送给所述采集处理电路;所述采集处理电路用于将Δ′的值作为标准电压U0以对I/F电路进行校准;Δ′为相邻两次采样值之差,采样值为积分电容两端的压降值。

6.一种I/F电路,包括如权利要求3-5任一项所述的校准装置,其特征在于:还包括放电电路、放电电路开关和积分电路;所述积分电路的一端通过所述放电电路开关与所述放电电路连接,另一端与所述处理器连接,所述处理器与所述放电电路开关连接。

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