[发明专利]一种光谱参数获取方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种光谱参数获取方法，其特征在于，包括：

获取多组光谱数据，每组光谱数据对应的压力不同，其中，所述每组光谱数据包括在不同频率下测量的实测吸收系数；

针对每一组光谱数据，基于该组光谱数据获取预设的吸收系数表达式中所需的输入参数，其中，所述表达式中包括用于表征吸收系数的归一化线型函数项；

将从每一组光谱数据获得的对应的输入参数带入所述吸收系数表达式，并利用最小二乘法对带入输入参数的预设吸收系数表达式进行拟合，输出光谱参数；

其中，所述预设的吸收系数表达式为：

其中，i表示光谱数据的组数，ω表示频率，ω₀表示分子跃迁频率，表示吸收系数曲线相对于频率轴线的积分面积，表示拟合直线函数表达式中的常数项，表示拟合直线函数表达式中的一次项系数，表示用于表征吸收系数的归一化线型函数项。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对每一组光谱数据，根据该组光谱数据获取预设的吸收系数表达式中所需的输入参数，包括：

根据该组光谱数据，确定表征频率和实测吸收系数关系的曲线，获取吸收系数曲线相对于频率轴线的积分面积，所述积分面积即为所述输入参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用最小二乘法对带入预设输入参数的吸收系数表达式进行拟合，包括：

基于带入预设输入参数的吸收系数表达式，获得不同频率下的计算吸收系数；

基于同一个频率对应的计算吸收系数和实测吸收系数，获得该频率对应的计算吸收系数和实测吸收系数的差值的平方；

基于每一个频率对应的计算吸收系数和实测吸收系数的差值的平方，获得第一残差平方和；

调整所述归一化线型函数项中的光谱参数，通过同样的方法，获得调整光谱参数后的吸收系数表达式对应的第二残差平方和；

计算所述第一残差平方和和所述第二残差平方和的差值，得到第一计算容差；

并将所述第一计算容差与预设的容差进行比较，当所述第一计算容差大于所述预设的容差时，再次调整所述归一化线型函数项中的光谱参数；

基于再次调整光谱参数后的所述的吸收系数表达式，获得第三残差平方和，计算第三残差平方和与第二残差平方和的差值，得到第二计算容差，并将所述第二计算容差与所述预设的容差进行比较，直至获取的计算容差小于所述容差，输出调整后的光谱参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设的容差获取过程包括：

获得所述多组光谱数据中所有实测吸收系数的平均值；

将所述平均值的10^-8作为所述预设的容差。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述归一化线型函数项是包括Γ_D、Γ₀/p、Δ₀/p、Γ₂/p、Δ₂/p、ν_VC/p、η的HTP线型函数，其中，p表示压力，Γ₀是碰撞展宽，Δ₀是碰撞偏移，Γ₂是速度相关碰撞展宽，Δ₂是速度相关碰撞偏移，v_VC是速度变化碰撞频率，η是偏相关系数；当所述计算容差大于所述预设的容差时，调整所述线型函数中的光谱参数，包括：

当所述计算容差大于所述预设的容差时，对Γ_D、Γ₀/p、Δ₀/p、Γ₂/p、Δ₂/p、v_VC/p、η中至少一项进行调整。