[发明专利]一种基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法有效

专利信息
申请号: 202110114105.X 申请日: 2021-01-27
公开(公告)号: CN113029039B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 李洪儒;崔磊;袁寒;包忠毅 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 深圳众邦专利代理有限公司 44545 代理人: 罗川
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 彩色 编码 三维 测量 绝对 相位 矫正 方法
【权利要求书】:

1.一种基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1编码彩色条纹;

S2将彩色条纹投影到待测物体上,CCD获取彩色变形条纹;

S3从彩色变形条纹中提取两组相位信息;

S4用附加相位对主相位进行相位矫正,得到准确相位信息;

所述步骤S1中编码彩色条纹时,彩色编码条纹包括条纹Ι和条纹ΙΙ,条纹Ι由正弦条纹和对应阶梯条纹组成;

正弦条纹编码公式为:

Ik(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(φΙk) (1),

A(x,y)为平均强度,B(x,y)为强度调制,φΙ为正弦编码相位,δk为相移相位,其中

φΙ=2πyf0 (2),

f0为条纹频率,k为相移步数;

所述正弦条纹编码公式中正弦条纹编码相位φΙ替换成阶梯条纹相位编码能够得到阶梯条纹的编码条纹,其中,阶梯条纹相位编码为:

其中,M是条纹每周期的阶梯级数,P是条纹间距;

正弦条纹与阶梯条纹合称为条纹Ι,条纹ΙΙ相对于条纹Ι移动即移动相位π,条纹ΙΙ也包括正弦条纹和对应阶梯条纹;

条纹ΙΙ的正弦条纹编码相位φΙΙ为:

φΙΙ=2π(y+P/2)f0 (5),

条纹ΙΙ的阶梯条纹编码相位为:

同理,令条纹ΙΙ的正弦条纹编码相位φΙΙ和阶梯条纹编码相位替换正弦条纹编码公式中的φΙ能够得到条纹II的正弦条纹和对应阶梯条纹;

所述编码条纹I放入彩色编码条纹的R通道中,所述编码条纹II放入彩色编码条纹的B通道中,形成彩色编码条纹;

所述步骤S3中提取相位信息时将收集到的彩色变形条纹其R和B通道数据提取出来,得到两组灰度条纹。

2.根据权利要求1所述的基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法,其特征在于,然后将条纹I带入包裹相位计算公式中,得到正弦和阶梯的包裹相位φ′I

对两组灰度条纹分别计算包裹相位,包裹相位计算公式为:

Ik为相机获取到的正弦条纹,正弦条纹相移步数为N,同样,将条纹II带入包裹相位计算公式中,得到正弦和阶梯的包裹相位φ′II

3.根据权利要求2所述的基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法,其特征在于,然后运用绝对相位阶梯编码展开包裹相位,得到两组展开相位ΦI和ΦII,相位展开具体过程如下,计算条纹级次k和r:

其中为r(i)为每一行第i个像素对应的k(i)的子区域码字,k(i)为每一行第i个像素对应的编码级次顺序,然后,根据k和r解开包裹相位:

4.根据权利要求3所述的基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法,其特征在于,所述步骤S4中用附加相位对主相位进行相位矫正时先让ΦI、ΦII两者进行自对比,去除变小的相位误码,得到第一次矫正的相位Φ′I、Φ′II

5.根据权利要求4所述的基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法,其特征在于,所述第一次矫正的相位Φ′I、Φ′II获得后,再根据第一次矫正的相位Φ′I、Φ′II计算阶梯误码值△k,两者相对比则可判断Φ′I的误码区域,在误码处两者相减并除以2π后取整,即可得到Φ′I的阶梯误码差值△k:

6.根据权利要求5所述的基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法,其特征在于,所述阶梯误码差值△k获得后,再用Φ′I减去△k个2π,进行第二次相位矫正,得到正确相位Φ″I

Φ″I(x,y)=Φ′I(x,y)-△k×2π (17)。

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