[发明专利]磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备

权利要求书

1.一种磁共振CEST成像频率漂移校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：控制CEST成像系统，使其以小于90°的翻转角发出射频脉冲激发目标层面；

S2：在所述射频脉冲发出后，采集单行自由感应衰减信号并对所述单行自由感应衰减信号进行划分，将信号中的奇数采样点数据作为奇数行，偶数采样点数据作为偶数行；计算奇数行与偶数行中对应采样点相位差的代表数，作为奇数行与偶数行的行间相位差，再通过该行间相位差除以采样周期计算得到主磁场频率漂移值；所述代表数是统计学上能够代表样本平均水平的指标；

S3：根据得到的主磁场频率漂移值，实时调整磁共振设备的中心频率。

2.根据权利要求1所述的磁共振CEST成像频率漂移校正方法，其特征在于，所述S1中翻转角小于10°。

3.根据权利要求2所述的磁共振CEST成像频率漂移校正方法，其特征在于，所述主磁场频率漂移值Δf的计算公式为：

其中ΔT为所述自由感应衰减信号的采样周期；为奇数行与偶数行的行间相位差，计算公式为：

其中为奇数行的第i个数据采样点与偶数行的第i个数据采样点间的相位差，n为偶数行或奇数行信号中的采样点数。

4.根据权利要求3所述的磁共振CEST成像频率漂移校正方法，其特征在于，所述的代表数为算数平均数、中位数。

5.一种磁共振CEST成像频率漂移校正装置，其特征在于，包括频率漂移校正模块，所述的频率漂移校正模块用于执行S1～S3；

S1：控制CEST成像系统，使其以小于90°的翻转角发出射频脉冲激发目标层面；

S2：在所述射频脉冲发出后，采集单行自由感应衰减信号并对所述单行自由感应衰减信号进行划分，将信号中的奇数采样点数据作为奇数行，偶数采样点数据作为偶数行；计算奇数行与偶数行中对应采样点相位差的代表数，作为奇数行与偶数行的行间相位差，再通过该行间相位差除以采样周期计算得到主磁场频率漂移值；所述代表数是统计学上能够代表样本平均水平的指标；

S3：根据得到的主磁场频率漂移值，实时调整磁共振设备的中心频率。

6.根据权利要求5所述的磁共振CEST成像频率漂移校正装置，其特征在于，所述S1中翻转角小于10°。

7.根据权利要求6所述的磁共振CEST成像频率漂移校正装置，其特征在于，所述主磁场频率漂移值Δf的计算公式为：

其中ΔT为所述自由感应衰减信号的采样周期；为奇数行与偶数行的行间相位差，计算公式为：

其中为奇数行的第i个数据采样点与偶数行的第i个数据采样点间的相位差，n为偶数行或奇数行信号中的采样点数。

8.根据权利要求7所述的磁共振CEST成像频率漂移校正装置，其特征在于，所述的代表数为算数平均数、中位数。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1～4任一项所述的磁共振CEST成像频率漂移校正方法。

10.一种磁共振成像设备，其特征在于，包括磁共振扫描器以及控制单元，所述控制单元中存储有计算机程序，当所述计算机程序被执行时，用于实现如权利要求1～4任一项所述的磁共振CEST成像频率漂移校正方法；磁共振扫描器根据校正后的中心频率进行磁共振CEST成像。