[发明专利]一种利用常规四级质谱仪准确测量氢、氘、氦分压的方法有效

专利信息
申请号: 202110111092.0 申请日: 2021-01-27
公开(公告)号: CN112924522B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 余耀伟;陈跃;曹斌;王俊儒;左桂忠;胡建生 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 张乾桢
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 常规 质谱仪 准确 测量 氦分压 方法
【权利要求书】:

1.一种利用常规四级质谱仪准确测量氢、氘、氦分压的方法,其特征在于:选择两个预定的电离能,在纯氢气、纯氘气和纯氦气的宽范围真空环境下进行四级质谱仪的标定,获得在选定的两种电离能下各种气体压强与AMU2和AMU4的离子流的对应关系;在后续四级质谱仪测量中,同时扫描选定的两种电离能条件下的AMU2和AMU4的离子流,通过分析计算,获得氢气、氘气和氦气的准确分压,具体步骤包括:

a)选择两个预定的电离能参数E1、E2,分别为低电离能和高电离能,选择的原则是:15.4E124.5eV,E225.3eV;

b)在四级质谱仪标定测试系统上,在四级质谱仪工作压强范围内,在选定的两个电离能条件下,分别在纯氢气、纯氘气和纯氦气环境下标定四级质谱仪,确定电离能、气体压强与AMU2和AMU4的离子流之间的关系;

c)根据步骤b)的标定结果,在选定的两个电离能条件下纯氢气、纯氘气和纯氦气的气体压强与AMU2和AMU4的离子流之间的定量关系如下:

IE1_AMU2_H2=f1(PH2)(1)

IE1_AMU2_D=f2(PD2)(2)

IE1_AMU4_D2=f3(PD2)(3)

IE1_AMU4_He=f4(PHe)(4)

IE2_AMU2_H2=g1(PH2)(5)

IE2_AMU2_D=g2(PD2)(6)

IE2_AMU4_D2=g3(PD2)(7)

IE2_AMU4_He=g4(PHe)(8)

其中PH2、PD2和PHe分别是氢气、氘气和氦气的气压,单位为Pa;IE1_AMU2_H2、IE1_AMU2_D、IE1_AMU4_D2和IE1_AMU4_He分别是在电离能E1条件下H2+、D+、D2+和He+的离子流,IE2_AMU2_H2、IE2_AMU2_D、IE2_AMU4_D2和IE2_AMU4_He分别是在电离能E2条件下H2+、D+、D2+和He+的离子流;由于E1小于氘原子和氦分子的电离阈值,因此

IE1_AMU2_D=0(9)

IE1_AMU4_He=0(10)

在四级质谱仪的工作气压范围内,在两个电离能条件下纯氢气、纯氘气和纯氦气的绝对气压与四级质谱仪扫描AMU2和AMU4的离子流之间呈单调上升的函数关系;f1~f4、g1~g4分别代表预定的两种电离能条件下各气体压强与AMU2和AMU4的离子流关系的函数;

d)实际使用四级质谱仪对氘气和氦气测量时,同时在预定的两个电离能条件下扫描AMU2和AMU4,得到两种离子流数据IE1_AMU2、IE1_AMU4、IE2_AMU2和IE2_AMU4,这是由氢气、氘气和氦气的分子和原子电离后共同贡献的,

IE1_AMU2=IE1_AMU2_H2+IE1_AMU2_D (11)

IE2_AMU2=IE2_AMU2_H2+IE2_AMU2_D (12)

IE2_AMU4=IE2_AMU4_D2+IE2_AMU4_He (13)

e)根据步骤c)的标定结果和d)的测量结果,结合式(1)、(9)和(11)确定氢气的气压PH2

f)根据步骤c)的标定结果、d)的测量结果以及e)的计算结果,将PH2结果带入式(5)、(6)和(12)计算得到氘气的气压PD2,最后将PD2带入式(7)、(8)和(13),计算得到氦气的气压PHe

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