[发明专利]一种确定用于对存储器执行操作的参考电压的方法

权利要求书

1.一种确定用于对存储器执行操作的参考电压的方法，其中所述存储器包括多个存储器单元，其特征在于，包括：

从所述多个存储器单元中选择预定的存储器单元，其中所述预定的存储器单元具有多个处于晶态的存储单元和多个处于非晶态的存储单元；

将递增的多个测量电压施加至所述预定的存储器单元；

从所述多个测量电压中，选择使得单个存储器单元中所有处于晶态的存储单元的反馈为“1”、所有处于非晶态的存储单元的反馈为“0”的多个第一阈值测量电压；

从所述多个第一阈值测量电压中，选择数值最小的测量电压作为第一阈值电压；

从所述多个测量电压中，选择使得单个存储器单元中处于非晶态的存储单元的反馈为“1”的多个第二阈值测量电压；以及

从所述多个第二阈值测量电压中，选择与反馈为“1”的存储单元数量最少的存储器单元对应的测量电压作为第二阈值电压：以及

根据所述第一阈值电压和所述第二阈值电压确定所述参考电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在从所述多个存储器单元选择预定的存储器单元的步骤之后，还包括：

向所述预定的存储器单元中的一部分存储单元施加第一预处理电信号，使得所述一部分存储单元处于晶态；以及

向所述预定的存储器单元中的另一部分存储单元施加第二预处理电信号，使得所述另一部分存储单元处于非晶态。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述处于晶态的存储单元和所述处于非晶态的存储单元之间的数量差小于等于所述处于晶态的存储单元和所述处于非晶态的存储单元的数量和的15％。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述多个存储器单元中选择预定的存储器单元的步骤包括：

从所述多个存储器单元中选择处于空闲状态的存储器单元作为所述预定的存储器单元。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述递增的多个测量电压为等差递增的多个测量电压。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述递增的多个测量电压包括第1测量电压、……、第m测量电压、……、和第n测量电压，其中，所述递增的多个测量电压之间的递增额按照从所述第1测量电压至所述第m测量电压减小而从所述第m测量电压至所述第n测量电压增加的规律变化。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述递增的多个测量电压包括第1测量电压、第2测量电压、第3测量电压、……第m-1测量电压、第m测量电压、第m+1测量电压、……、第n-2测量电压、第n-1测量电压和第n测量电压，其中，所述第1测量电压、所述第2测量电压和所述第3测量电压之间的递增额为第一差额，所述第m-1测量电压、所述第m测量电压和所述第m+1测量电压之间的递增额为第二差额，所述第n-2测量电压、所述第n-1测量电压和所述第n测量电压之间的递增额为第一差额，所述第一差额大于所述第二差额。

8.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法，其特征在于，从所述多个存储器单元中选择预定的存储器单元的步骤包括：

从所述多个存储器单元中选择等于所述测量电压的数量的存储器单元作为所述预定的存储器单元。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，将递增的多个测量电压施加至所述预定的存储器单元的步骤包括：

将递增的多个测量电压分别施加至所述预定的存储器单元。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，根据所述第一阈值电压和所述第二阈值电压确定所述参考电压的步骤包括：

将位于所述第一阈值电压和所述第二阈值电压之间的任一测量电压作为所述参考电压。