[发明专利]一种图形中目标偏离程度的对比方法

说明书

本发明公开了一种图形中目标偏离程度的对比方法，包括以下步骤：步骤一：标准图片预处理；步骤二：标准图片中待测目标图片截选；步骤三：截选的目标图片预处理；步骤四：待测目标图片预处理；步骤五：待测目标图片检测。本发明通过将标准图片中待测的位置进行范围和尺寸的标注，然后进行截取并转换为二值图；将待测目标图片进行像素处理、高斯滤波以及平滑处理，并将该图转换为二值图；将截选的目标图片的二值图置于待测目标图片的二值图中进行对比，若超出阈值，则说明此处有问题；图形中目标偏离程度的对比，比较简单，有大量的开源算法可以使用。

技术领域

本发明涉及一种检测技术领域，具体涉及一种图形中目标偏离程度的对比方法。

背景技术

在多个不规则小物体的图像中，快速找到目标小物体的方法，在日常生活中有很多实际的应用，比如质量检测，作业批改等；现有技术中比较流行的是基于深度学习的目标检测方法，这种方式的缺点是需要大量的训练样本，以及人工标注，要实现一个功能通常要有大量的数据积累，并且耗费大量的计算资源来训练模型。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供了一种图形中目标偏离程度的对比方法，通过将标准图片中待测的位置进行范围和尺寸的标注，然后进行截取并转换为二值图；将待测目标图片进行像素处理、高斯滤波以及平滑处理，并将该图转换为二值图；将截选的目标图片的二值图置于待测目标图片的二值图中进行对比，若超出阈值，则说明此处有问题。

本发明图形中目标偏离程度的对比方法是通过以下技术方案来实现的：包括以下步骤：

步骤一：标准图片预处理；

步骤二：标准图片中待测目标图片截选；

步骤三：截选的目标图片预处理；

步骤四：待测目标图片预处理；

步骤五：待测目标图片检测。

作为优选的技术方案，标准图片预处理，将标准图片中需要检测的位置进行范围和尺寸的标注。

作为优选的技术方案，标准图片中待测目标图片截选，将标准图片中需要检测的位置进行截选并保存标准图片中待测目标图片截选，将标准图片中需要检测的位置进行截选并保存。

作为优选的技术方案，截选的目标图片预处理，将截选的目标图片转换为截选的目标图片的灰度图；截选的目标图片的灰度图使用自适应均值算法，将截选的目标图片的灰度图转换为二值图并保存。

作为优选的技术方案，待测目标图片检测，将截选的目标图片从待测目标图片的左上角开始，按照与设定的增量，逐个像素滑动；将滑动的每一个位置进行记录，并使用SQ-DIFF算法并计算相似度，将将每个位置坐标对应的相似度保存在结果矩阵R中，在结果矩阵R中找到相似度的最大值，并返回对应的位置坐标，找到相似度最大的位置，和标准图片的位置进行对比，若超过阈值，则说明此处有问题。

作为优选的技术方案，SQ-D工FF算法

本发明的有益效果是：通过将标准图片中待测的位置进行范围和尺寸的标注，然后进行截取并转换为二值图；将待测目标图片进行像素处理、高斯滤波以及平滑处理，并将该图转换为二值图；将截选的目标图片的二值图置于待测目标图片的二值图中进行对比，若超出阈值，则说明此处有问题；图形中目标偏离程度的对比，比较简单，有大量的开源算法可以使用。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为标准图片的示意图；

图2为截选的图片的示意图；