[发明专利]一种数控衰减器测试用夹具

说明书

本发明公开一种数控衰减器测试用夹具，涉及可靠性筛选与测试技术领域，以解决现有数控衰减器检测缺少专用测试夹具的问题。所述数控衰减器测试用夹具包括：测试支架、下压组件、下压块和测试底座，所述下压组件的一端转动式安装在所述测试支架的顶部，其另一端滑动式安装在所述测试支架上，所述下压块安装在所述下压组件上，与放置在所述测试支架上的所述测试底座相对设置，所述测试底座的上表面设置有检测线路板，测试数控衰减器安装在所述检测线路板上，并位于所述下压块的正下方。本发明提供的数控衰减器测试用夹具用于对数控衰减器进行电性能测试时的加持固定。

技术领域

本发明涉及可靠性筛选与测试技术领域，尤其涉及一种数控衰减器测试用夹具。

背景技术

数字衰减器是一种常见的微波器件，广泛的应用于微波系统中。对于数字衰减器的测试，除了测试其驻波、插损之外，还要测试其在不同衰减状态下的衰减精度。而现有的测试方式，由于缺少相匹配的测试夹具，无法有效的对数字衰减器进行电性能测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种数控衰减器测试用夹具，用于对数控衰减器进行电性能测试，以解决现有检测缺少专用测试夹具的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种数控衰减器测试用夹具，包括：测试支架、下压组件、下压块和测试底座，所述下压组件的一端转动式安装在所述测试支架的顶部，其另一端滑动式安装在所述测试支架上，所述下压块安装在所述下压组件上，与放置在所述测试支架上的所述测试底座相对设置，所述测试底座的上表面设置有检测线路板，测试数控衰减器安装在所述检测线路板上，并位于所述下压块的正下方。

与现有技术相比，本发明提供的数控衰减器测试用夹具中的测试底座能够更好的对数控衰减器进行安装固定，通过按压下压组件能够带动下压块上下运动；下压块正对测试底座上的数控衰减器，通过按压下压组件，能够很好的实现对数控衰减器的按压，确保数控衰减器与测试底座上的检测线路板的良好接触，以便能够更好的对数控衰减器的电参数进行检测。上述夹具相对于现有装置更加的简单，测试覆盖频率范围宽、测试精度高、对被测器件无损伤，具有很高的实用性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为现有技术中数字衰减器的引脚定义图；

图2为本发明实施例中提供的数控衰减器测试用夹具的示意图；

图3为本发明提供的测试电路的示意图。

附图标记：

110-固定杆，112-悬臂，113-底座，121-支撑圆，122-传动臂，123-滑块，124-固定块，125-手柄，130-下压块，140-测试底座，150-测试数控衰减器。

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。