[发明专利]一种反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法及测定方法

权利要求书

1.一种反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)取土壤或沉积物样品，去除杂质，预处理，备用；

2)将步骤1)所得的预处理后的土壤或沉积物样品利用化学方法逐步分离以去除待测元素的某种形态，每步分离之后，滤液部分用于测定土壤或沉积物样品中这种元素形态的实际含量，滤渣部分是去除了这种元素形态的残渣样品，残渣样品继续分离以去除待测元素的另一种形态，依次类推，去除待测元素的所有形态，得N种去除了待测元素相应形态的残渣样品和N种土壤或沉积物样品中相应元素形态的实际含量，N为自然数，N≥1；

3)取去除了M种元素形态的残渣样品，并以去除了M+1种元素形态的残渣样品为参照样，测定可见-近红外反射光谱，得待测元素第M+1种元素形态的反射光谱，M为非负整数，M+1≤N，共得N种待测元素相应元素形态的反射光谱；

4)将步骤3)所得的N种待测元素相应元素形态的反射光谱，利用化学计量学分析方法提取特征光谱，将提取的特征光谱与步骤2)所得的土壤或沉积物样品中相应元素形态的实际含量，通过最小二乘回归建立光谱模型，得反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的模型。

2.根据权利要求1所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述待测元素为氮、磷、碳、钾、重金属中的任意一种。

3.根据权利要求1所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述步骤2)中，化学方法是国标法、行标法或通用方法。

4.根据权利要求1所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述步骤1)中，杂质是石块和/或杂草。

5.根据权利要求1所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述步骤1)中，预处理是烘干、研磨和筛分，烘干是在40-60℃下进行，烘干至恒重，筛分所用筛网的粒径大小为0.40-0.50mm。

6.根据权利要求1所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述步骤3)中，去除了M种元素形态的残渣样品和去除了M+1种元素形态的残渣样品均先经过前处理再测定反射光谱；前处理是烘干、研磨和筛分，烘干是在40-60℃下进行，烘干至恒重，筛分所用筛网的粒径大小为0.40-0.50mm。

7.根据权利要求1-6中任意一项所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述步骤1)中，将所得的预处理后的土壤或沉积物样品分成30-50等份，每份均按照步骤2)和步骤3)的方法处理，得多份待测元素N种元素形态的反射光谱。

8.根据权利要求1所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法，其特征在于：

所述步骤1)中，土壤样品为土壤表层样品。

9.一种反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的方法，其特征在于，包括以下步骤：

取土壤或沉积物样品，去除杂质，预处理，测定可见-近红外反射光谱，并利用根据权利要求1-8中任意一项所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的建模方法所得的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的模型进行分析，得土壤/沉积物中元素形态的含量。

10.根据权利要求9所述的反射光谱法测定土壤/沉积物中元素形态的方法，其特征在于：

所述杂质是石块和/或杂草，所述预处理是烘干、研磨和筛分，烘干是在40-60℃下进行，烘干至恒重，筛分所用筛网的粒径大小为0.40-0.50mm。