[发明专利]可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统及方法在审
申请号: | 202110096680.1 | 申请日: | 2021-01-25 |
公开(公告)号: | CN112903248A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 袁索超;董晓娜;达争尚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王杨洋 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实现 激光 远近 同时 测量 单光路 光学系统 方法 | ||
1.一种可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统,其特征在于:
包括沿激光传输方向依次同轴设置的光阑(1)、近场成像镜头和CCD探测器(7);
所述光阑(1)中心设置有十字形遮挡条,用于提供近场参考位置基准;
所述近场成像镜头为望远镜头结构,包括沿激光传输方向依次同轴设置的多片透镜;
所述CCD探测器(7)的探测面相对光阑(1)共轭成像,且近场成像镜头中最靠近CCD探测器(7)一侧的透镜的二阶鬼光焦点位于CCD探测器(7)的探测面上。
2.根据权利要求1所述的可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统,其特征在于:
所述光阑(1)的通光孔径为方形或圆形。
3.一种可实现激光远近场同时测量的方法,其特征在于:
基于权利要求1或2所述的可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统,包括以下步骤:
1)将所述可实现激光远近场同时测量的单光路光学系统,对准待测激光光路;
2)使待测激光依次经光阑(1)、近场成像镜头和CCD探测器(7),在CCD探测器(7)的探测面上相对光阑(1)共轭成像,实现近场a的参数采集,同时CCD探测器(7)将待测激光近场a的参数数据反馈给待测激光的激光准直系统;
3)利用近场成像镜头中最靠近CCD探测器(7)一侧透镜的二阶剩余反射鬼光进行远场参数测量,实现远场b的参数采集,同时CCD探测器(7)将待测激光远场b的参数数据反馈给待测激光的激光准直系统;
4)初调激光系统,标记调试好的激光系统对应的待测激光近场和远场,分别作为近场基准位置a0和远场基准位置b0;
5)继续采集待测激光的近场参数an和远场参数bn数据,激光准直系统根据待测激光的近场参数an和远场参数bn数据,对激光系统运行状态进行实时监控,若待测激光的近场参数an和远场参数bn分别与近场基准位置a0和激光远场基准位置b0出现偏差,则激光准直系统根据反馈的偏差值调节激光系统;
6)重复步骤5)相同的操作,直至待测激光的近场参数an和远场参数bn与基准位置一致,实现激光光路自动准直。
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