[发明专利]爆闪灯性能测试方法及电子设备

权利要求书

1.一种爆闪灯性能测试方法，其特征在于，包括：

控制处于测试环境中的摄像机对待拍摄目标进行拍摄，得到图像，其中，在所述摄像机进行拍摄的过程中控制所述摄像机在开始曝光时向处于所述测试环境中的爆闪灯发送触发信号，以触发所述爆闪灯进行补光；

确定所述图像的所有像素行中被感光的像素行的个数；

根据所述被感光的像素行的个数确定所述爆闪灯的持续输出时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在控制处于测试环境中的摄像机对待拍摄目标进行拍摄之前，将所述摄像机的曝光时间设置为最小值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述爆闪灯的持续输出时间为所述被感光的像素行的个数与所述摄像机的单位曝光时间的乘积。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述图像的所有像素行中被感光的像素行的个数，包括：

确定所述图像的所有像素行中，像素值大于预设值的像素行的个数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试环境为暗室。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待拍摄目标为白色背景。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述摄像机中的图像传感器将采集到的单位光信号转换得到的电压信号的电压值，以及所述测试环境的环境光亮度；

根据所述电压值、所述环境光亮度以及所述被感光的像素行的个数计算所述爆闪灯的照度。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定所述图像中被感光的像素对应的三刺激值色彩空间的红原色刺激量、绿原色刺激量以及蓝原色刺激量；

根据所述红原色刺激量、绿原色刺激量以及蓝原色刺激量计算色度坐标值；

根据所述色度坐标值以及普朗克曲线计算出所述爆闪灯的色温值。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述摄像机中的图像传感器为互补金属氧化物半导体CMOS传感器。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为所述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述权利要求1至9中任一项所述的爆闪灯性能测试方法。