[发明专利]一种透镜阵列的横向位置误差三维度量方法及系统在审
申请号: | 202110080245.X | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN113654458A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 荆涛;毛岩;闫兴鹏;蒋晓瑜;刘云鹏;汪熙;刘新蕾 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军陆军装甲兵学院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 刘凤玲 |
地址: | 100072*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 透镜 阵列 横向 位置 误差 三维 度量 方法 系统 | ||
1.一种透镜阵列的横向位置误差三维度量方法,其特征在于,包括:
根据理想透镜阵列中心和重构点确定重构的光线在LCD显示屏的相交区域;
根据所述相交区域和实际透镜阵列中心确定光线参数方程;所述光线参数方程对应的光线为经过所述实际透镜阵列中心与空间散射区域相切的光线;
根据所述光线参数方程和切点确定所述空间散射区域的位置信息;所述切点为经过所述实际透镜阵列中心的光线与所述空间散射区域的切点;所述位置信息包括所述空间散射区域的球心坐标和所述空间散射区域的半径;
根据所述位置信息确定透镜阵列的横向位置误差。
2.根据权利要求1所述的透镜阵列的横向位置误差三维度量方法,其特征在于,所述根据理想透镜阵列中心和重构点确定重构的光线在LCD显示屏的相交区域,具体包括:
根据所述理想透镜阵列中心和重构点确定重构的光线的直线参数方程;
根据所述直线参数方程和所述LCD显示屏的位置确定所述重构的光线在LCD显示屏的相交区域。
3.根据权利要求2所述的透镜阵列的横向位置误差三维度量方法,其特征在于,所述根据所述相交区域和实际透镜阵列中心确定光线参数方程,具体包括:
根据如下公式确定光线参数方程:
其中,以理想透镜阵列中心为坐标系中心,以平行于理想透镜阵列行的方向为X轴,以平行于理想透镜阵列列的方向为Y轴,以垂直理想透镜阵列平面的方向为Z轴建立空间直角坐标系,A为实际透镜阵列中的一个透镜中心,xA为实际透镜阵列中心在空间直角坐标系下的横坐标,yA为实际透镜阵列中心在空间直角坐标系下的纵坐标,E为相交区域的一个顶点,xE为相交区域的顶点在空间直角坐标系的横坐标,yE相交区域的顶点在空间直角坐标系的纵坐标,z1为相交区域的顶点在空间直角坐标系的竖坐标,t为光线参数方程的参数,x为直线参数方程中的x变量,y为直线参数方程中的y变量,z为直线参数方程中的z变量。
4.根据权利要求3所述的透镜阵列的横向位置误差三维度量方法,其特征在于,所述根据所述光线参数方程和切点确定所述空间散射区域的位置信息,具体包括:
根据所述光线参数方程确定所述光线参数方程与所述空间散射区域的切点;
根据所述切点和切点所在直线的直线参数方程确定所述空间散射区域的位置信息;所述切点所在直线为切点和空间散射区域的球心形成的直线。
5.根据权利要求4所述的透镜阵列的横向位置误差三维度量方法,其特征在于,所述根据所述位置信息确定透镜阵列的横向位置误差,具体包括:
根据所述球心坐标确定偏离重构点的距离;
根据所述偏离重构点的距离和所述空间散射区域的半径确定所述透镜阵列的横向位置误差。
6.根据权利要求5所述的透镜阵列的横向位置误差三维度量方法,其特征在于,所述根据所述球心坐标确定偏离重构点的距离,具体包括:
根据如下公式确定偏离重构点的距离:
其中,T为偏离重构点的距离,P为球心,xp为球心坐标的横坐标,yp为球心坐标的纵坐标,zp为球心坐标竖坐标,R为重构点,xR为重构点的横坐标,yR为重构点的纵坐标,zR为重构点的竖坐标。
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