[发明专利]待配对设备检测方法、设备配对方法、装置、设备及介质有效
申请号: | 202110079300.3 | 申请日: | 2021-01-25 |
公开(公告)号: | CN112954545B | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 张鹏 | 申请(专利权)人: | 歌尔科技有限公司 |
主分类号: | H04R3/00 | 分类号: | H04R3/00;G01S13/88 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 梁馨怡 |
地址: | 266104 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 配对 设备 检测 方法 装置 介质 | ||
1.一种待配对设备检测方法,其特征在于,所述待配对设备检测方法应用于电子设备,所述电子设备为任何具有扬声器且能与其他设备进行配对的终端,所述电子设备包括信号发射装置,所述信号发射装置为毫米波雷达,所述待配对设备检测方法包括如下步骤:
发射待配对设备检测信号;
接收反射信号,根据所述反射信号确定所述电子设备周围是否存在待配对设备;
所述发射待配对设备检测信号的步骤之前,还包括:
检测所述电子设备的加速度;
在所述电子设备的加速度大于或者等于预设加速度阈值时,执行步骤:发射待配对设备检测信号;
和/或所述发射待配对设备检测信号的步骤之前,还包括:
检测所述电子设备的运行状态;
在所述电子设备处于开机状态时,执行步骤:发射待配对设备检测信号;
所述根据所述反射信号确定所述电子设备周围是否存在待配对设备的步骤包括:
根据所述反射信号确定反射物体的特征形状;
若所述反射物体的特征形状为预设形状,则确定所述电子设备周围存在待配对设备;
若所述反射物体的特征形状不为预设形状,则确定所述电子设备周围不存在待配对设备。
2.一种电子设备配对方法,其特征在于,所述电子设备配对方法应用于电子设备,所述电子设备在按照如权利要求1所述的待配对设备检测方法确定所述电子设备周围存在待配对设备后,执行所述电子设备配对方法,所述电子设备配对方法包括如下步骤:
向所述待配对设备发送携带有配对请求的通讯信号,以供所述待配对设备根据所述通讯信号的强度确定是否响应所述电子设备的配对请求;
若接收到所述待配对设备反馈的配对响应信号,确定完成所述电子设备与所述待配对设备的配对。
3.如权利要求2所述的电子设备配对方法,其特征在于,所述向所述待配对设备发送携带有配对请求的通讯信号的步骤之后,还包括:
若在第二预设时长内未接收到所述待配对设备反馈的配对响应信号,则重复向所述待配对设备发送配对请求;
若重复预设次数,且每次在第二预设时长内都未接收到所述待配对设备反馈的配对响应信号,则结束配对。
4.一种电子设备配对装置,其特征在于,所述电子设备配对装置包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的待配对设备检测程序和电子设备配对程序,所述待配对设备检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1所述的待配对设备检测方法的步骤,所述电子设备配对程序被所述处理器执行时实现如权利要求2至3中任一项所述的电子设备配对方法的步骤。
5.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括如权利要求4所述的电子设备配对装置。
6.一种组合设备,其特征在于,所述组合设备包括至少两个电子设备,任一所述电子设备包括如权利要求4所述的电子设备配对装置。
7.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质上存储有待配对设备检测程序和电子设备配对程序,所述待配对设备检测程序被处理器执行时实现如权利要求1所述的待配对设备检测方法的步骤,所述电子设备配对程序被处理器执行时实现如权利要求2至3中任一项所述的电子设备配对方法的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于歌尔科技有限公司,未经歌尔科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110079300.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。