[发明专利]协议转换桥接电路以及系统级芯片

说明书

本发明公开了一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片。协议转换桥接电路包括相连的测试信号转换电路和协议转换驱动电路；测试信号转换电路，用于接收符合NOC标准协议的标准测试信号，并从标准测试信号中解析出至少一项测试信息；将测试信息转换为测试对象所适配的目标测试信号；协议转换驱动电路，用于将目标测试信号转换为符合JTAG标准协议的JTAG管脚输入信号。本发明实施例的技术方案使得SoC上的任一IP都可以通过NOC网络发出测试指令，控制整体JTAG网络的测试逻辑，实现了在不使用的JTAG管脚的前提下，通过NOC网络发出的测试指令对整个JTAG测试网络进行控制的技术效果。

技术领域

本发明实施例涉及计算机硬件技术，具体涉及芯片技术，尤其涉及一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片。

背景技术

随着高性能，大规模芯片的功能日益趋向复杂，对于芯片系统级测试以及可靠性测试的要求也变得越来越高。

传统的芯片内部的JTAG（Joint Test Action Group，联合测试工作组）网络和测试逻辑如图1a所示，在图1a中，芯片通过JTAG管脚接收JTAG管脚输入信号，由测试访问口（Test Access Port，TAP）控制器将该JTAG管脚输入信号转换为对应的JTAG测试信号后，经由JTAG网络发送至芯片中的一个或者多个IP核进行结构性测试。示例性的，对IP核内的制作测试控制逻辑进行测试。测试这部分逻辑的主要目的是在测试机台上发现芯片在生产加工中出现的各种结构性问题。

但是，在很多应用场景中，为了节省板级测试环境开发成本，芯片中可能是没有提供JTAG网络相关的外部管脚的，或者在产品成品板上是没有任何测试相关的管脚连接的。在这种情况下，还希望利用JTAG网络进行芯片调试就变得非常困难了。

发明内容

本发明实施例提供了一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片，以实现在不使用的JTAG管脚的前提下，通过NOC（Network On Chip，片上网络）网络发出的测试指令对整个JTAG测试网络进行控制，执行相应的JTAG测试功能。

第一方面，本发明实施例提供了一种协议转换桥接电路，包括：相连的测试信号转换电路以及协议转换驱动电路；

测试信号转换电路，用于接收符合NOC标准协议的标准测试信号，并从标准测试信号中解析出至少一项测试信息；将所述测试信息转换为测试对象所适配的目标测试信号，所述目标测试信号为符合NOC时钟域的并行信号；

协议转换驱动电路，用于将目标测试信号转换为符合JTAG标准协议的JTAG管脚输入信号，以对所述测试对象进行JTAG测试，所述JTAG管脚输入信号为符合JTAG时钟域的串行信号。

第二方面，本发明实施例还提供了一种IP核，包括：如本发明任一实施例所述的协议转换桥接电路。

进一步的，所述IP核为中央测试控制IP核。

第三方面，本发明实施例还提供了一种SoC（System-on-a-Chip，系统级芯片），包括：TAP（Test Access Port，测试访问口）控制器、NOC路由器、至少一个标准IP核和如本发明任一实施例所述的中央测试控制IP核；

各标准IP核和中央测试控制IP核通过TAP控制器，形成片上的联合测试工作组JTAG网络，各标准IP核和中央测试控制IP核通过NOC路由器，形成片上的NOC网络；

所述中央测试控制IP核，用于从NOC路由器接收符合NOC标准协议的标准测试信号，并从标准测试信号中解析出至少一项测试信息；将所述测试信息转换为目标测试信号；将目标测试信号转换为符合JTAG标准协议的JTAG管脚输入信号，并将所述JTAG管脚输入信号传输至所述TAP控制器；

其中，所述目标测试信号为符合NOC时钟域的并行信号，所述JTAG管脚输入信号为符合JTAG时钟域的串行信号；