[发明专利]一种集成芯片的控制方法、装置、设备及介质

说明书

本申请公开了一种集成芯片的控制方法，其中，集成芯片中设置有模拟控制电路，该方法包括：对集成芯片进行检测；当集成芯片失效时，则利用模拟控制电路对集成芯片中的模拟电路模块进行控制。显然，通过这样的设置方式不仅能够避免集成芯片中的模拟电路模块由于集成芯片失效而出现的不可控现象，而且，也可以推测出集成芯片产生失效的原因，此时通过对导致集成芯片发生失效的信号进行控制，就可以保证集成芯片的正常运行。相应的，本申请所提供的一种集成芯片的控制装置、设备及介质，同样具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，特别涉及一种集成芯片的控制方法、装置、设备及介质。

背景技术

集成芯片是电力电子领域中最为常见的一种电子元器件，并且，随着集成芯片的逐渐增大，会在集成芯片中设置大量的模拟电路模块。如果集成芯片中的模拟电路模块发生失效，那么，集成芯片中模拟电路模块的输出信号就会出现抖动或亚稳态现象，与此同时，集成芯片模拟电路模块的输出信号也会反馈至集成芯片内模拟电路模块的输入信号中，这样不仅会导致模拟电路模块处于不可控状态，而且，也会引发集成芯片的异常运行。目前，针对这一技术问题，还没有较为有效的解决办法。

由此可见，如何能够在集成芯片发生失效的情况下，实现对集成芯片中模拟电路模块的控制，并保证集成芯片的正常运行，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种集成芯片的控制方法、装置、设备及介质，以能够在集成芯片发生失效的情况下，实现对集成芯片中的模拟电路模块的控制，并保证集成芯片的正常运行。其具体方案如下：

一种集成芯片的控制方法，所述集成芯片中设置有模拟控制电路，包括：

对所述集成芯片进行检测；

当所述集成芯片失效时，则利用所述模拟控制电路对所述集成芯片中的模拟电路模块进行控制。

优选的，所述对所述集成芯片进行检测的过程，包括：

利用微光显微镜对目标buffer进行监测；其中，所述目标buffer为预先添加到所述模拟电路模块输出端的buffer，且所述目标buffer的输出端不连接负载；

若所述目标buffer出现异常亮点，则判定所述集成芯片失效。

优选的，所述目标buffer的功率大于预设阈值。

优选的，还包括：

控制所述模拟电路模块输出不同的目标输出信号，并利用所述微光显微镜对所述目标buffer的输出状态进行观测，得到目标观测状态；

利用所述目标观测状态对所述集成芯片中发生失效的器件进行定位。

优选的，所述控制所述模拟电路模块输出不同的目标输出信号的过程，包括：

通过所述集成芯片的I2C接口或SPI接口或UART接口控制所述模拟电路模块输出不同的所述目标输出信号。

优选的，所述利用所述模拟控制电路对所述集成芯片中的模拟电路模块进行控制的过程，包括：

当所述集成芯片中设置有DFT电路时，则通过复用所述DFT电路，以对所述模拟电路模块进行控制。

相应的，本发明还公开了一种集成芯片的控制装置，所述集成芯片中设置有模拟控制电路，包括：

芯片检测模块，用于对所述集成芯片进行检测；

芯片控制模块，用于当所述集成芯片失效时，则利用所述模拟控制电路对所述集成芯片中的模拟电路模块进行控制。

相应的，本发明还公开了一种集成芯片的控制设备，包括：