[发明专利]绑定异常的测试及修复方法、装置、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种绑定异常的测试方法，其特征在于，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述方法包括：

获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；

当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；

获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区分区所得到的区域，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，包括：

获取第一绑定区的群阻抗，所述第一绑定区为所述覆晶薄膜和显示面板绑定的区域；

获取第二绑定区的群阻抗，所述第二绑定区为所述覆晶薄膜和电路板绑定的区域。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，包括：

获取绑定子区的群阻抗，并根据绑定子区的群阻抗确定异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区进行分区得到的区域；

获取下一级绑定子区的群阻抗，并根据下一级绑定子区的群阻抗确定下一级异常绑定子区，直至绑定子区不能分区，所述下一级绑定子区为对所述异常绑定子区分区得到的区域。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取绑定子区的群阻抗，并根据绑定子区的群阻抗确定异常绑定子区，包括：

对所述绑定区进行均匀分区得到多个一致的绑定子区，并获取每个绑定子区的群阻抗；

当所述绑定子区的群阻抗位于第二预设阈值范围之外时，确定所述绑定子区为异常绑定子区。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，当所述绑定子区的群阻抗位于第二预设阈值范围之外时，确定所述绑定子区为异常绑定子区，包括：

当任一绑定子区的群阻抗和多个绑定子区的群阻抗的众数不一致，确定所述绑定子区为异常绑定子区。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取下一级绑定子区的群阻抗，并根据下一级绑定子区的群阻抗确定下一级异常绑定子区，直至绑定子区不能分区，包括：

分区步骤：对上一级绑定子区进行分区得到多个下一级绑定子区，并获取下一级绑定子区的群阻抗；

确定步骤，当所述下一级绑定子区的群阻抗位于对应的预设阈值之外时，确定所述下一级绑定子区为异常下一级绑定子区；

重复分区步骤和确定步骤，直至绑定子区包括一条导线。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述当所述下一级绑定子区的群阻抗位于对应的预设阈值之外时，确定所述下一级绑定子区为异常下一级绑定子区，包括：

当任一所述下一级绑定子区的群阻抗和多个所述下一级绑定子区的群阻抗的众数不一致时，确定所述下一级绑定子区为异常下一级绑定子区。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述异常绑定子区通过镭射反射确定绑定异常的位置。

9.一种绑定异常的测试装置，其特征在于，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述绑定异常的测试装置包括：

第一获取模块，用于获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；

第一确定模块，用于当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；

第二确定模块，用于获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定区包括多个绑定子区，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。