[发明专利]一种批量测试USB电子盘的方法及系统

说明书

本公开能够实现对多个待测USB电子盘的批量测试，能够通过目标测试程序对多个待测USB电子盘进行读写测试，得到每个待测USB电子盘对应的读写测试结果，然后对每个读写测试结果进行识别，在该所述读写测试结果表征其对应的第一USB电子盘通过测试时，输出所述第一USB电子盘对应的第一可视化结果，在该所述读写测试结果表征其对应的第二USB电子盘未通过测试时，输出所述第二USB电子盘对应的第二可视化结果。如此设计，能够实现对待测USB电子盘的批量自动化测试，进而提高针对USB电子盘的批量测试效率，减少测试耗时，进而减少测试所耗费的人力成本和时间成本。

技术领域

本公开涉及USB DOM电子盘测试技术领域，特别涉及一种批量测试USB电子盘的方法及系统。

背景技术

在存储行业中，存储设备的质量备受客户的关注。现有技术中，用H2test软件测试硬盘一台机只能测试一个USB DOM电子盘，无法满足大批量生产需求。现有技术中，H2test软件无法实现统一多个USB DOM电子盘同时测试；用H2test软件去测试硬盘的时候，需要自己手动去选择测试目标，然后点击运行开始，无法实现自动化和无法一键操作提高生产效率，一台电脑测试一个盘而且桌面显示一个窗口，在大批量生产过程中显得效率很低，提高了人工成本和时间成本。因此，对USB DOM电子盘进行批量快速测试重中之重的问题是如何提高USB DOM电子盘批量快速测试的效率。然而现有的针对USB DOM电子盘的测试方法效率低，耗时长。

发明内容

为改善相关技术中存在的上述问题，本公开提供了批量测试USB电子盘的方法及系统。

第一方面提供一种批量测试USB电子盘的方法，应用于计算机设备，包括：

在检测到多个待测USB电子盘的插入信号时，对所述多个待测USB电子盘进行模式识别，并在识别出所述多个待测USB电子盘的当前模式为移动硬盘模式时，运行目标测试程序；

通过所述目标测试程序对所述多个待测USB电子盘进行读写测试，得到每个所述待测USB电子盘对应的读写测试结果；

对每个读写测试结果进行识别，在该所述读写测试结果表征其对应的第一USB电子盘通过测试时，输出所述第一USB电子盘对应的第一可视化结果，在该所述读写测试结果表征其对应的第二USB电子盘未通过测试时，输出所述第二USB电子盘对应的第二可视化结果。

可选的，通过所述目标测试程序对所述多个待测USB电子盘进行读写测试，得到每个所述待测USB电子盘对应的读写测试结果，包括：

通过所述目标测试程序向每个所述待测USB电子盘写入第一测试数据；

通过所述目标测试程序对每个所述待测USB电子盘进行数据读取，得到第二测试数据；其中，每个所述待测USB电子盘的第一测试数据和所述第二测试数据一一对应；

根据所述第一测试数据和所述第二测试数据，得到每个所述待测USB电子盘对应的读写测试结果。

可选的，根据所述第一测试数据和所述第二测试数据，得到每个所述待测USB电子盘对应的读写测试结果，包括：

获取所述第一测试数据对应的第一数据输出信息，以及所述第二测试数据对应的第二数据输出信息；其中，所述第一数据输出信息和所述第二数据输出信息分别包括多个具有不同比对测试指标的输出信息片段内容，所述输出信息片段内容包括图像内容、语音内容和/或文字内容；

提取所述第一测试数据在所述第一数据输出信息的其中一个输出信息片段内容的原始内容描述信息，将所述第二数据输出信息中具有最多的比对测试指标的输出信息片段内容确定为目标输出信息片段内容；根据电子盘故障检测模型和预设的输出信息分类结果将所述原始内容描述信息映射到所述目标输出信息片段内容，在所述目标输出信息片段内容中得到原始内容映射信息，并根据所述原始内容描述信息、所述原始内容映射信息，生成所述第一测试数据和所述第二测试数据之间的读写测试比对指标；