[发明专利]一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备

说明书

本发明提供了一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备，方法包括以下步骤：将通用坏块表转换成二进制坏块表；建立与二进制坏块表的行列数相同的数组，其中，数组中所有数组元素的初始值为第一逻辑值；对二进制坏块表中的各逻辑块依次进行扫描并确认扫描到的逻辑块的值；响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为第一逻辑值，将逻辑块识别为备选坏块并对其进行深度优先遍历，以确认与逻辑块连续的备选坏块的数量。本发明解决了人工计算检测连续坏块效率低的问题，有效提高了连续坏块的自动识别能力，进而有效缩短了磁盘开发测试的调试周期。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备。

背景技术

坏块是磁盘中无法正常使用的存储单元，根据来源可分为出厂坏块和增长坏块。出厂坏块是磁盘从工厂出来时就具有的，每块磁盘多多少少都会带有一些坏块。增长坏块指随着磁盘的使用，一些初期的好块也会变成坏块。好块变为坏块的主要原因是擦写磨损。

磁盘块都具有一定寿命，每擦除一次磁盘块，都会对磁盘块造成磨损，因此磁盘块都是有寿命的，可以用PE数(Program/EraseCount)来衡量，因此不能集中往某几个磁盘块上写数据，不然这几块很快就会因PE耗尽而磨损变为坏块。在闪存中，FTL(FlashTranslation Layer，闪存转换层)会让数据均摊到每个闪存块上，让每个块都磨损的差不多。正常情况下磁盘块均匀磨损，各个磁盘块磨损的程度应该相当，出现成片连续坏块的可能性并不高。当出现大批量连续坏块时，可能是由于磁盘的磨损次数已经耗尽，也可能是由于电路板设计缺陷导致加载到磁盘的电压不准致使读取失败被误标记为坏块，也可能是磁盘本身的缺陷。

目前的坏块扫描技术是对磁盘块逐个进行扫描，对标记坏块制成坏块表，目前坏块表组织形式以十六进制存储，对于连续坏块无法自动定位。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备，用以解决现有技术中无法检测连续坏块的问题。

基于上述目的，本发明提供了一种连续坏块的检测方法，包括如下步骤：

将通用坏块表转换成二进制坏块表；

建立与二进制坏块表的行列数相同的数组，其中，数组中所有数组元素的初始值为第一逻辑值；

对二进制坏块表中的各逻辑块依次进行扫描并确认扫描到的逻辑块的值；

响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为第一逻辑值，将逻辑块识别为备选坏块并对其进行深度优先遍历，以确认与逻辑块连续的备选坏块的数量。

在一些实施例中，深度优先遍历包括：

将识别的备选坏块对应的数组元素的值设置为第二逻辑值；

对备选坏块相邻的逻辑块依次进行扫描，并确认扫描的逻辑块的值；

响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为第一逻辑值，将逻辑块识别为备选坏块，且将连续的备选坏块的数量加一，并返回将识别的备选坏块对应的数组元素的值设置为第二逻辑值的步骤。

在一些实施例中，相邻的逻辑块包括在二进制坏块表中与备选坏块位于同一行或同一列的相邻的逻辑块。

在一些实施例中，方法还包括：

判断与逻辑块连续的备选坏块的数量是否大于预设阈值；

响应于与逻辑块连续的备选坏块的数量大于预设阈值，确认与逻辑块对应的磁盘存储块位置。

在一些实施例中，确认与逻辑块对应的磁盘存储块位置包括：

输出逻辑块在二进制坏块表中的坐标，并基于坐标确认与逻辑块对应的磁盘存储块位置。