[发明专利]测量数据分析装置、测量装置和数据分析方法

权利要求书

1.一种测量数据分析装置(100)，所述测量数据分析装置(100)用于分析多个系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)的数据(182，183，282，283)，所述测量数据分析装置(100)包括：

数据源(101，201)，其被配置成提供所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)的数据(182，183，282，283)；

显示器(103，203，303，403)；以及

数据处理器(102，202)，其耦接至所述数据源(101，201)并且耦接至所述显示器(103，203，303，403)，其中，所述数据处理器(102，202)被配置成：

控制所述显示器(103，203，303，403)显示包括至少两个维度(104，105，204，205)的图，

从来自所述数据源(101，201)的所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)中的至少两个系列中选择数据(182，183，282，283)，

针对所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)中的至少两个系列中的每一个系列，在所述图的所述至少两个维度(104，105，204，205)中的第一维度(104，204)中提供专用的第一轴(106，107，206，207，306，307，406，407)，以及

在所述图中显示所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)的所选择的数据(182，183，282，283)。

2.根据权利要求1所述的测量数据分析装置(100)，其中，所述数据处理器(102，202)被配置成针对包括所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)中的至少两个系列的第一系列组在所述图的所述第一维度(104，204)中提供公共的第一轴(406)。

3.根据权利要求1所述的测量数据分析装置(100)，其中，所述数据处理器(102，202)被配置成根据至少两个系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)和/或第一系列组各自的第一轴(106，107，206，207，306，307，406，407)在所述图中叠加所述至少两个系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)和/或第一系列组。

4.根据权利要求1所述的测量数据分析装置(100)，其中，所述数据处理器(102，202)被配置成针对包括所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)中的至少两个系列的第二系列组在所述图的至少第二维度(105，205)中提供公共的第二轴(108，208，308，309，408，409)。

5.根据权利要求1所述的测量数据分析装置(100)，其中，所述数据处理器(102，202)被配置成针对所述系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)中的至少两个系列中的每一个系列在所述图的至少第二维度(105，205)中提供专用的第二轴(108，208，308，309，408，409)。

6.根据权利要求5所述的测量数据分析装置(100)，其中，所述数据处理器(102，202)被配置成根据至少两个系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)和/或第二系列组各自的第二轴(108，208，308，309，408，409)在所述图中叠加所述至少两个系列(180，181，280，281，380，381，385，480，481，485)和/或第二系列组。