[发明专利]一种X射线胶片检测缺陷定位装置有效
申请号: | 202110056519.1 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN112881438B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 王广旭;程俊亮;梁朝栋 | 申请(专利权)人: | 航天海鹰(哈尔滨)钛业有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01B11/00 |
代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 韩丽娜 |
地址: | 150028 黑龙江省哈尔滨市松北*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 胶片 检测 缺陷 定位 装置 | ||
本发明提出一种X射线胶片检测缺陷定位装置,属于射线检测技术研究领域,该装置的可移动固定激光指示器框架通过两端固定销在框架的滑轨上作用移动,每个可移动固定激光指示器框架安装有激光指示器,每个激光指示器沿可移动固定激光指示器框架上下移动,框架的两侧安装有可弯曲塑料支撑,每个可弯曲塑料支撑通过两端的可移动滑块进行弧度调节。本发明解决如何避免评定人员实时在观片灯下边观看边标注,效率低下且定位精度不足,以及如何将胶片上显示的标记和缺陷位置一起投影到工件上的技术问题,本发明利用投射到工件上的显示标记来进行缺陷标注,可以将结果显示的缺陷位置快速准确的定位在被检测物体上,从而提高效率和缺陷定位精度。
技术领域
本发明涉及一种X射线胶片检测缺陷定位装置,属于X射线胶片成像检测技术领域,具体涉及X射线检测过程根据胶片显示的检测结果,将结果显示的缺陷位置快速准确的定位在被检测物体上。
背景技术
射线胶片照相无损检测技术是射线源发出的射线透过被检物体,利用被检物体与其内部缺陷介质对射线强度衰减的程度不同来携带被检物体内部信息,并用射线胶片记录下来,经显影、定影等处理,在胶片上形成透视投影影像,通过对影像的识别来评定被检物体内部是否存在不连续性的一种射线无损检测方法,是其他射线检测技术的基础,也是射线应用最广泛的射线检测技术。
而在各种工件的生产过程中,内部难免出现缺陷,在对各种工件及产品进行X射线胶片检测过程中,对于胶片成像检测中发现的缺陷在工件上进行标注时,完全依靠评定人员的直观感受进行标定,评定人员往往需要依据底片上的一些标记或其他参照物对工件上的缺陷进行标注,缺陷与相关参照物距离较近时标注往往较为准确,一旦与相关参照物距离较远时往往缺陷的标注不够准确,给后续处理带来麻烦,严重影响工作效率。
发明内容
本发明为了解决如何避免评定人员实时在观片灯下边观看边标注,效率低下且定位精度不足,以及如何将胶片上显示的标记和缺陷位置一起投影到工件上的技术问题,提出一种用于X射线胶片检测在被检测物体上进行快速精确标注缺陷的专用装置,利用投射到工件上的显示标记来进行缺陷标注,可以将结果显示的缺陷位置快速准确的定位在被检测物体上,从而提高效率和缺陷定位精度。
本发明提出一种X射线胶片检测缺陷定位装置,包括框架、三个激光指示器、三个可移动固定激光指示器框架、六个固定销、四个可移动滑块和两个可弯曲塑料支撑,所述框架的上下各设置一道滑轨,六个固定销分别位于上下的滑轨内,两两相对设置,两两相对的固定销上套有可移动固定激光指示器框架,可移动固定激光指示器框架通过两端的固定销在框架的滑轨上作用移动,每个可移动固定激光指示器框架安装有激光指示器,每个激光指示器沿可移动固定激光指示器框架上下移动,所述框架的两侧安装有可弯曲塑料支撑,每个可弯曲塑料支撑通过两端的可移动滑块进行弧度调节。
一种X射线胶片检测缺陷定位装置的使用方法,具体包括以下步骤:
(1)把胶片固定在框架上,利用框架上自带的强光光源来进行观测胶片,观测过程中把任意两个激光指示器垂直移动到底片上显示的标记位置处,再把剩下的一个激光指示器垂直移动到胶片上所标注的缺陷位置处,并打开这个激光指示器,然后将整个装置平行放置在距离检测面的一定位置上,其中定位的两个激光指示器与工件上的两个定位标记重合,对应缺陷的激光指示器在工件上的投影即为缺陷位置;
(2)当被检物体为环形工件时,因为检测面为弧形,为了能使胶片上的投影定位标记能与工件上的定位标记准确重合,将固定胶片的可移动滑块往内滑动,使胶片的弧度与工件弧度近乎一致,直到胶片的投影标记与工件面上的定位标记重合,在移动缺陷对应的激光指示器,此时激光指示器在工件上的投影即为缺陷在工件上的对应位置。
本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置的有益效果为:
1、本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置,能够将胶片上显示的标记和缺陷位置投影到工件上,能够在X射线检测过程中辅助评定人员对检测过程中发现的缺陷能够快速准确的标注在被检测物体上。
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