[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取模板图像、以及待检测图像；

基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像；所述蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征第二像素点存在缺陷的异常度值；所述第二像素点为所述待检测图像中位置与所述第一像素点匹配的像素点；其中，所述蒙版图像中任一第一像素点的像素值，基于所述模板图像中多个满足一定距离关系的第二像素点的像素值的确定；

基于所述蒙版图像，确定所述待检测图像的缺陷检测结果；

其中，所述基于所述模板图像、以及所述待检测图像，生成与所述待检测图像对应的蒙版图像，包括：

根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像；

针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像中，确定与该第三像素点对应的多个目标像素点；所述多个目标像素点与所述第二图像中的目标第四像素点之间的距离小于第一距离阈值，所述目标第四像素点为所述第二图像中位置与所述第三像素点匹配的第四像素点；

针对每个所述第三像素点，基于所述多个所述目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度，确定该第三像素点的异常度值；

根据所述第三像素点的异常度值，确定所述待检测图像中与所述第三像素点对应的第二像素点的异常度值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像，包括：

将所述待检测图像确定为所述第一图像，以及将所述模板图像确定为所述第二图像；

或者，

所述根据所述待检测图像确定第一图像，以及根据所述模板图像，确定第二图像，包括：

获取所述待检测图像的第一特征图，并将所述第一特征图确定为所述第一图像；获取所述模板图像的第二特征图，并将所述第二特征图确定为所述第二图像。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，针对每个所述第三像素点，基于所述多个所述目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度，确定该第三像素点的异常度值，包括：

确定所述多个目标像素点分别与该第三像素点之间的相似度中的最大相似度；基于所述最大相似度，确定该第三像素点的异常度值。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像中，确定与该第三像素点对应的多个目标像素点，包括：

针对所述第一图像中的每个第三像素点，从所述第二图像的多个第四像素点中，确定与该第三像素点位置匹配的目标第四像素点；

从所述第二图像的多个所述第四像素点中，确定与所述目标第四像素点距离小于第一距离阈值的多个第四像素点，并将确定的第四像素点确定为所述目标像素点。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，针对每个所述第三像素点，采用下述方式确定每个目标像素点与该第三像素点之间的相似度：

基于该第三像素点在所述第一图像中的位置、以及预设的第二距离阈值，得到该第三像素点对应的第一子图；以及

基于所述每个目标像素点在所述第二图像中的位置、以及所述第二距离阈值，得到所述每个目标像素点对应的第二子图；

基于所述第一子图、以及所述第二子图，确定所述每个目标像素点与该第三像素点之间的相似度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于该第三像素点在所述第一图像中的位置、以及预设的第二距离阈值，得到该第三像素点对应的第一子图，包括：

在所述第一图像中，确定以该第三像素点为圆心、以所述第二距离阈值为半径的第一圆形区域，基于所述第一图像上位于该第一圆形区域内的第三像素点，得到所述第一子图；

所述基于所述每个目标像素点在所述第二图像中的位置、以及所述第二距离阈值，得到所述每个目标像素点对应的第二子图，包括：

在所述第二图像中，确定以所述每个目标像素点为圆心、以所述第二距离阈值为半径的第二圆形区域，基于所述第二图像上位于该第二圆形区域内的第四像素点，得到所述第二子图。