[发明专利]玉米水分无损检测方法及装置

说明书

本发明提供一种玉米水分无损检测方法及装置，其中，玉米水分无损检测方法，包括：向待测玉米发送射频信号，并接收反射信号；基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的射频阻抗参数；根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量。避免破坏玉米的苞叶层和玉米籽粒，实现对于苞叶存在下玉米水分含量的无损原位测定。

技术领域

本发明涉及农业生产技术领域，尤其涉及一种玉米水分无损检测方法及装置。

背景技术

水分含量是玉米育种过程中需要获取的重要性状参数，籽粒脱水速率快，收获时玉米穗籽粒含水量较低是玉米育种的重要评价指标，也是耐密宜机收玉米品种选育的重要特征之一。对于生长期苞叶存在下玉米穗籽粒水分的测量，能够实现对玉米穗生理成熟时间的预测，获取生理成熟前玉米穗籽粒的脱水曲线。

目前有研究者采用插针式探针测量玉米籽粒水分，虽然能够有效的检测玉米籽粒水分，但在检测过程中不可避免的会破坏玉米的苞叶层，并且也容易损伤玉米籽粒。

因此，如何提供一种玉米水分无损检测方法及装置，避免破坏玉米的苞叶层和玉米籽粒，实现对于苞叶存在下玉米水分含量的无损原位测定成为亟待解决的问题。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种玉米水分无损检测方法及装置。

本发明提供一种玉米水分无损检测方法，包括：

向待测玉米发送射频信号，并接收反射信号；

基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的射频阻抗参数；

根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量。

根据本发明提供的玉米水分无损检测方法，所述根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量的步骤之前，方法还包括：

基于所述射频信号和所述反射信号，确定样品玉米的射频阻抗参数；

确定样本玉米的实际水分值；其中，所述样本玉米与所述待测玉米生长状态相同；

基于所述样本玉米的实际水分值和所述样本玉米的射频阻抗参数，确定所述含水量标定公式。

根据本发明提供的玉米水分无损检测装置，所述基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的射频阻抗参数，具体包括：

基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的测量反射系数；

基于所述待测玉米的测量反射系数和射频误差校准参数，确定待测玉米的负载反射系数；

基于所述待测玉米的负载反射系数和特征阻抗，确定待测玉米的射频阻抗参数。

根据本发明提供的玉米水分无损检测方法，所述基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的射频阻抗参数，具体包括：

基于第一射频信号和第一反射信号，确定待测玉米的第一射频阻抗参数；所述第一射频阻抗参数用于确定待测玉米苞叶层含水量；

基于第二射频信号和第二反射信号，确定待测玉米的第二射频阻抗参数；所述第二射频阻抗参数用于确定待测玉米苞叶层和玉米穗籽粒层含水量。

根据本发明提供的玉米水分无损检测方法，所述根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量，具体包括：

根据所述第一射频阻抗参数和所述第二射频阻抗参数以及玉米穗籽粒层含水量标定公式，确定所述待测玉米籽粒的含水量。

根据本发明提供的玉米水分无损检测方法，