[发明专利]一种光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统

说明书

本发明公开了一种光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统，包括拉力进给装置，所述拉力进给装置包括：连接销、滑轮、柔索和螺旋传动机构，所述连接销的上部与所述光电子封装柔性并联平台相连，所述滑轮抵接所述柔索且将所述柔索分为竖直段和水平段，所述竖直段的远离所述滑轮的一端与所述连接销的下部相连，所述水平段的远离所述滑轮的一端与所述螺旋传动机构的一端相连。该光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统旨在解决现有技术中的静刚度测试装置存在加载位置不确定、无法连续加载及存在加载冲击的技术问题。

技术领域

本发明属于刚度测量装置技术领域，尤其涉及一种光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统。

背景技术

光电子封装柔性并联平台用于对光通道进行精密对准，其工作过程中不可避免的会在外力作用下产生变形，这种变形将直接影响光通道的对准精度，因此测试和评估平台静刚度是保证光通道精密对准的重要前提。

现有技术中，对光电子封装柔性并联平台的静刚度进行测量方案如下：由于空间位置的限制，通过在光电子封装柔性并联平台的动平台上放置砝码，实现并联平台加载，再通过检测设备测量并联平台变形量。

现有技术中，直接在并联平台上加载(动平台上放置砝码)来测试刚度的方法存在以下不足：

(1)由于每次加载位置的不固定，无法保证载荷作用在同一点上，可能出现偏载情况，将影响刚度的测试结果。

(2)现有技术中的加载方式无法实现载荷的连续进给，只能通过调换砝码的方式改变载荷。

(3)在加载过程中可能对平台产生一定的冲击，影响平台的运动精度。

发明内容

(一)要解决的技术问题

基于此，本发明提出了一种光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统，该光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统旨在解决现有技术中的静刚度测试装置存在加载位置不确定、无法连续加载及存在加载冲击的技术问题。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提出了一种光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统，包括拉力进给装置，所述拉力进给装置包括：连接销、滑轮、柔索和螺旋传动机构，所述连接销的上部与所述光电子封装柔性并联平台相连，所述滑轮抵接所述柔索且将所述柔索分为竖直段和水平段，所述竖直段的远离所述滑轮的一端与所述连接销的下部相连，所述水平段的远离所述滑轮的一端与所述螺旋传动机构的一端相连。

优选的，所述竖直段的延伸方向和所述光电子封装柔性并联平台的高度方向相同，所述水平段的延伸方向与所述竖直段的延伸方向垂直。

优选的，所述螺旋传动机构包括：进给柱支座、拉力进给柱和摇把，所述拉力进给柱贯穿所述进给柱支座且与所述进给支座螺纹相连，所述进给柱的一端与所述柔索水平段相连，所述摇把设于所述进给柱的另一端。

优选的，所述水平段和所述拉力进给柱之间设有拉力计，所述水平段、所述拉力计和所述拉力进给柱三者沿同一水平线安装。

优选的，所述拉力计下方设置导向件，所述导向件包括：滑块、导轨和固定支座，所述导轨和所述固定支座固定相连，所述滑块固定于所述拉力计的下方，且所述滑块的下部设有与所述导轨滑动配合的滑槽，所述导轨收容于所述滑槽内。

优选的，所述柔索为钢绳。

优选的，所述拉力进给装置还包括与所述滑轮转动相连的滑轮座，所述光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统还包括检测平台，所述光电子封装柔性并联平台、所述固定支座、所述进给柱支座和所述滑轮座分别设于所述检测平台上。

优选的，所述检测平台为光学平台。

优选的，所述光电子封装柔性并联平台静刚度的测试系统还包括变形量检测单元。