[发明专利]一种高频IMPATT二极管台面管芯结构及制备方法有效
申请号: | 202110041251.4 | 申请日: | 2021-01-13 |
公开(公告)号: | CN112635575B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 潘结斌;陈婧瑶;吕东锋;李文翰;史一明;李泽瑞 | 申请(专利权)人: | 华东光电集成器件研究所 |
主分类号: | H01L29/864 | 分类号: | H01L29/864;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113 | 代理人: | 杨晋弘 |
地址: | 233030 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高频 impatt 二极管 台面 管芯 结构 制备 方法 | ||
1.一种高频IMPATT二极管台面管芯结构的制备方法,IMPATT二极管台面管芯结构包括p+导电基底,p+导电基底顶面设有台面管芯pn结,所述台面管芯中央设有竖直的通孔,使台面管芯形成环形圆台状,其特征在于,包括以下步骤:
S1、在n+硅晶圆片上生长n型外延层、p型外延层及p+外延层;
S2、对n型外延层掺杂施主杂质,p外延层掺杂受主杂质;
S3、在p+外延层表面制备p+电极增强层;
S4、对n+硅晶圆片进行减薄;
S5、在n+硅晶圆片的减薄面制备n+电极增强层;
S6、按照台面管芯设计图形,通过光刻、腐蚀工艺,由n+电极增强层向p+外延层腐蚀,得到所述的高频IMPATT二极管台面管芯结构。
2.根据权利要求1所述的一种高频IMPATT二极管台面管芯结构,其特征在于,所述通孔下部的孔径由上至下渐缩。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东光电集成器件研究所,未经华东光电集成器件研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110041251.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类