[发明专利]采样电路、温度检测电路及电器设备

说明书

本发明提出了一种采样电路、温度检测电路及电器设备，该采样电路包括与待采样电路连接的采样电阻、校准电路和用于隔离的二极管；二极管的阳极与待采样电路中待检测电阻连接，阴极与采样电阻连接，实现采样电阻与待采样电路的其他连接电路的隔离；校准电路与二极管的阳极连接，检测二极管的管压降；采样电阻与待检测电阻串联对待采样电路的电源VCC进行分压，采样电阻一端接地，另一与主控芯片的采样检测端连接，主控芯片根据采样电阻分压值、采样电阻阻值和二极管的管压降计算待检测电阻的阻值。本发明通过校准电路测出二极管的实际压降，将补偿值设置为测得的实际压降，使得检测到的采样值与实际值能够保持一致，保证检测精准度。

技术领域

本发明涉及电路设计技术领域，尤其涉及一种采样电路、温度检测电路及电器设备。

背景技术

目前，大部分产品在电路功能设计时都会用到采样电路，比如通过NTC热敏电阻对温度进行检测，而且根据应用场景的需要，采样电路还会与其他电路连接，为了避免其他电路的影响，此时需要加入二极管进行隔离。

由于二极管存在管压降，因此会导致检测出的取样值与实际信号值有偏差，为补偿管压降，现有技术中常规做法是在程序中设定固定的补偿值以对管压降进行补偿。但二极管压降一般有个范围，且与环境温度有关系，产品批量后不同二极管之间偏差可能较大，若采用固定的补偿值对管压降进行补偿，会导致检测精准不准确，无法满足采样精度要求较高产品的检测需求。

发明内容

本发明实施例提出了一种采样电路、温度检测电路及电器设备，以解决现有技术中采用固定的补偿值对管压降进行补偿，导致检测精准不准确的问题。

本发明实施例提供的采样电路，包括与待采样电路连接的采样电阻、校准电路以及设置在待采样电路与采样电阻之间的二极管；

所述二极管的阳极与所述待采样电路中的待检测电阻连接，所述二极管的阴极与所述采样电阻连接，以实现采样电阻与待采样电路的其他连接电路的隔离；

所述校准电路与所述二极管的阳极连接，用于检测所述二极管的管压降；

所述采样电阻与所述待检测电阻串联，对待采样电路的电源VCC进行分压，所述采样电阻一端接地，另一检测端与主控芯片的采样检测端连接，通过采样检测端将采样电阻分压值上传主控芯片，以供主控芯片根据采样电阻分压值、采样电阻阻值和二极管的管压降计算待检测电阻的阻值。

可选地，所述校准电路包括第一电阻、第一三极管和第二电阻，所述第一电阻的一端与主控芯片的校准激励信号输出端连接，另一端与第一三极管的基级连接，第一三极管的发射极连接电源VCC,第一三极管的集电极连接第二电阻的一端，第二电阻的另一端与所述二极管的阳极连接，当校准激励信号输出端输出低电平时，第一三极管导通，第二电阻与采样电阻串联形成分压电路对电源VCC进行分压，以供主控芯片根据采样电阻分压值、采样电阻阻值和第二电阻阻值计算二极管的管压降。

可选地，所述采样电路还包括滤波电路，所述滤波电路连接在主控芯片的采样检测端与所述采样电阻之间。

可选地，所述滤波电路包括第三电阻和电容，所述电容并联在所述采样电阻的两端，所述第三电阻连接在主控芯片的采样检测端与采样电阻的检测端之间。

可选地，所述第二电阻与所述采样电阻阻值相同。

本发明实施例还提供了一种温度检测电路，包括如上所述的采样电路。